Атомно-силовой микроскоп 0,04 нм, 0,1 Гц - 30 Гц, АСМ для точного наноразмерного анализа поверхности

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы (AFM) является передовым инструментом, который предлагает многорежимные возможности измерений для анализа поверхности на уровне атомного разрешения.Этот современный микроскоп позволяет детально исследовать образцы размером до 25 мм, предоставляя исследователям бесценные знания о различных материалах и конструкциях.

Одной из ключевых особенностей микроскопа атомной силы являются его универсальные режимы изображения, которые включают топографию, фазу, трение, боковую силу, магнитную силу и изображение электростатической силы.Этот широкий спектр способов визуализации позволяет пользователям собирать всеобъемлющие данные о физических и химических свойствах исследуемых образцов, что делает его незаменимым инструментом для исследователей из разных областей.

Благодаря замечательному разрешению 0,04 нм микроскоп атомной силы позволяет пользователям получать высокоточное изображение и анализ, захватывая даже самые мелкие детали на поверхности образца.Этот уровень разрешения имеет решающее значение для изучения наноразмерных особенностей и структур, предоставляя исследователям важную информацию для их исследований.

Микроскоп атомной силы предлагает диапазон сканирования 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм, что позволяет детально и точно сканировать образцы на большой площади.Этот широкий диапазон сканирования делает его подходящим для различных приложений, от исследований в области нанотехнологий до материаловедения и далее.

Кроме того, микроскоп атомной силы может похвастаться диапазоном скорости сканирования от 0,1 Гц до 30 Гц, предоставляя пользователям гибкость регулирования скорости сканирования в соответствии с их конкретными требованиями.Эта функция позволяет эффективно получать и анализировать данные, экономия времени и повышение производительности в процессах исследований и разработок.

В заключение, микроскоп атомной силы - это самый современный инструмент, который предлагает многорежимные измерения, анализ поверхности на уровне атомного разрешения,и высокоточные изображенияС его передовыми функциями и универсальными режимами визуализации,Этот микроскоп является незаменимым инструментом для исследователей, стремящихся исследовать и понять сложный мир наноразмерных структур и материалов..

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Этап выборки: этап XYZ с пиезоприводом
• Размер образца: до 25 мм
• Разрешение: 0,04 нм (нанометровое разрешение)
• Скорость сканирования: 0,1-30 Гц
• Режимы изображения: топография, фаза, трение, боковая сила, магнитная сила, электростатическая сила

Технические параметры:

Применение:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, происходящий из Китая, является передовым инструментом, предназначенным для характеристики наномасштаба в различных приложениях и сценариях.С его передовыми функциями и возможностями, этот сканирующий силовой микроскоп подходит для широкого спектра исследовательских и промышленных условий.

AtomEdge Pro оснащен пиезоуправляемой XYZ-стадией, позволяющей точно манипулировать образцами и позиционировать их.Эта особенность необходима для проведения детальных измерений и визуализации на наноуровнеМикроскоп имеет впечатляющее разрешение 0,04 нм, что позволяет пользователям получать изображения высокой четкости с исключительной ясностью.

Одним из ключевых достоинств AtomEdge Pro является его универсальность в режимах изображения.и электростатической силыЭта многорежимная способность измерения позволяет исследователям собирать всеобъемлющие данные о различных свойствах поверхности и взаимодействиях.

Кроме того, AtomEdge Pro предлагает широкий диапазон сканирования 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм, что позволяет пользователям исследовать большие области образцов при сохранении высокой точности и точности.Благодаря этому микроскоп идеально подходит для анализа различных типов и размеров образцов..

Будь то академические исследовательские лаборатории, промышленные научно-исследовательские объекты или приложения контроля качества,Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope превосходит в предоставлении подробных сведений о структурах и свойствах наномасштабаЕго высокий диапазон скорости сканирования от 0,1 Гц до 30 Гц обеспечивает эффективное сбор данных, что делает его подходящим для экспериментов и производственных процессов.

В заключение, AtomEdge Pro - мощный инструмент для характеристики наноразмера, предлагающий несравненные возможности в сканировании силовой микроскопии и многорежимных измерениях.Благодаря его передовым функциям и надежной работе он является ценным инструментом для ученых, инженеров и исследователей, работающих в различных областях.