0.04nm Atomic Force Microscopie 0.1Hz - 30Hz AFM Microscopie voor Nauwkeurige Nano-schaal Oppervlakte Analyse

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscoop (AFM) is een geavanceerd instrument dat multi-mode meetmogelijkheden biedt voor oppervlakteanalyse op atomaire resolutie. Deze geavanceerde microscoop maakt gedetailleerd onderzoek van monsters tot 25 mm mogelijk, waardoor onderzoekers waardevolle inzichten krijgen in verschillende materialen en structuren.

Een van de belangrijkste kenmerken van de Atomic Force Microscoop is de veelzijdige beeldvormingsmodi, waaronder topografie, fase, wrijving, laterale kracht, magnetische kracht en elektrostatische kracht beeldvorming. Deze brede reeks beeldvormingsmodi stelt gebruikers in staat om uitgebreide gegevens te verzamelen over de fysische en chemische eigenschappen van de te bestuderen monsters, waardoor het een onmisbaar hulpmiddel is voor onderzoekers in verschillende vakgebieden.

Met een opmerkelijke resolutie van 0,04 nm stelt de Atomic Force Microscoop gebruikers in staat om zeer precieze beeldvorming en analyse te bereiken, waarbij zelfs de kleinste details op het monsteroppervlak worden vastgelegd. Dit resolutieniveau is cruciaal voor het bestuderen van structuren en kenmerken op nanoschaal, en biedt onderzoekers cruciale informatie voor hun onderzoeken.

De Atomic Force Microscoop biedt een scanbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm, waardoor gedetailleerd en nauwkeurig scannen van monsters over een breed gebied mogelijk is. Dit brede scanbereik maakt het geschikt voor een verscheidenheid aan toepassingen, van nanotechnologieonderzoek tot materiaalkunde en daarbuiten.

Verder beschikt de Atomic Force Microscoop over een scansnelheidsbereik van 0,1 Hz tot 30 Hz, waardoor gebruikers de flexibiliteit hebben om de scansnelheid aan te passen aan hun specifieke vereisten. Deze functie maakt efficiënte data-acquisitie en -analyse mogelijk, waardoor tijd wordt bespaard en de productiviteit in onderzoeks- en ontwikkelingsprocessen wordt verbeterd.

Kortom, de Atomic Force Microscoop is een state-of-the-art instrument dat multi-mode meetmogelijkheden, oppervlakteanalyse op atomaire resolutie en zeer precieze beeldvorming biedt. Met zijn geavanceerde functies en veelzijdige beeldvormingsmodi is deze microscoop een onmisbaar hulpmiddel voor onderzoekers die de ingewikkelde wereld van structuren en materialen op nanoschaal willen verkennen en begrijpen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscoop
• Monstertafel: Piezo-aangedreven XYZ-tafel
• Monstergrootte: Tot 25 mm
• Resolutie: 0,04 nm (Nanometer Resolutie)
• Scansnelheid: 0,1 Hz-30 Hz
• Beeldvormingsmodi: Topografie, Fase, Wrijving, Laterale Kracht, Magnetische Kracht, Elektrostatische Kracht

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscoop, afkomstig uit China, is een geavanceerd hulpmiddel dat is ontworpen voor karakterisering op nanoschaal in een verscheidenheid aan toepassingen en scenario's. Met zijn geavanceerde functies en mogelijkheden is deze scanning force microscoop geschikt voor een breed scala aan onderzoeks- en industriële omgevingen.

De AtomEdge Pro is uitgerust met een piezo-aangedreven XYZ-tafel, die nauwkeurige monsterbewerking en positionering mogelijk maakt. Deze functie is essentieel voor het uitvoeren van gedetailleerde metingen en beeldvorming op nanoschaal. De microscoop beschikt over een indrukwekkende resolutie van 0,04 nm, waardoor gebruikers beelden met hoge definitie met uitzonderlijke helderheid kunnen vastleggen.

Een van de belangrijkste sterke punten van de AtomEdge Pro is de veelzijdigheid in beeldvormingsmodi. Het ondersteunt meerdere modi, waaronder topografie, fase, wrijving, laterale kracht, magnetische kracht en elektrostatische kracht. Deze multi-mode meetmogelijkheid stelt onderzoekers in staat om uitgebreide gegevens te verzamelen over verschillende oppervlakte-eigenschappen en interacties.

Verder biedt de AtomEdge Pro een breed scanbereik van 100 μm X 100 μm X 10 μm, waardoor gebruikers grotere monsteroppervlakken kunnen verkennen met behoud van hoge precisie en nauwkeurigheid. Dit uitgebreide bereik maakt de microscoop ideaal voor het analyseren van diverse monstertypes en -groottes.

Of het nu gaat om academische onderzoekslaboratoria, industriële R&D-faciliteiten of kwaliteitscontroletoepassingen, de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscoop blinkt uit in het leveren van gedetailleerde inzichten in structuren en eigenschappen op nanoschaal. Het hoge scansnelheidsbereik van 0,1 Hz tot 30 Hz zorgt voor efficiënte data-acquisitie, waardoor het geschikt is voor tijdsgevoelige experimenten en productieprocessen.

Kortom, de AtomEdge Pro is een krachtig hulpmiddel voor karakterisering op nanoschaal en biedt ongeëvenaarde mogelijkheden in scanning force microscopie en multi-mode metingen. De geavanceerde functies en betrouwbare prestaties maken het een waardevolle aanwinst voor wetenschappers, ingenieurs en onderzoekers die in verschillende vakgebieden werken.