0,04nm Rasterkraftmikroskop 0,1Hz - 30Hz AFM Mikroskop für präzise Oberflächenanalyse im Nanobereich

Beschreibung des Produkts:

Das Atomic Force Microscope (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das mehrmodische Messfunktionen für die Oberflächenanalyse auf atomarer Auflösung bietet.Dieses moderne Mikroskop ermöglicht eine detaillierte Untersuchung von Proben mit einer Größe bis zu 25 mm, die den Forschern wertvolle Einblicke in verschiedene Materialien und Strukturen bieten.

Eines der wichtigsten Merkmale des Atomkraftmikroskops sind seine vielseitigen Bildgebungsmodi, die Topographie, Phase, Reibung, seitliche Kraft, magnetische Kraft und elektrostatische Kraftbildgebung umfassen.Diese breite Palette von Bildgebungsarten ermöglicht es den Benutzern, umfassende Daten über die physikalischen und chemischen Eigenschaften der untersuchten Proben zu sammeln., so dass es ein unverzichtbares Werkzeug für Forscher verschiedener Bereiche ist.

Mit einer bemerkenswerten Auflösung von 0,04 nm ermöglicht das Atomic Force Microscope den Benutzern eine präzise Bildgebung und Analyse, die auch die kleinsten Details auf der Probenoberfläche erfasst.Dieses Auflösungsniveau ist entscheidend für die Untersuchung von Merkmalen und Strukturen im Nanobereich, die den Forschern wichtige Informationen für ihre Untersuchungen liefern.

Das Atomic Force Microscope bietet einen Scanning-Bereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm und ermöglicht eine detaillierte und genaue Untersuchung von Proben in einem weiten Bereich.Dieser große Scanbereich macht es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, von der Nanotechnologie-Forschung bis hin zur Materialwissenschaft und darüber hinaus.

Darüber hinaus verfügt das Atomic Force Microscope über einen Scan-Geschwindigkeitsbereich von 0,1 Hz bis 30 Hz, wodurch die Benutzer die Flexibilität haben, die Scan-Geschwindigkeit an ihre spezifischen Anforderungen anzupassen.Diese Funktion ermöglicht eine effiziente Datenerfassung und -analyse, die Zeit sparen und die Produktivität bei Forschungs- und Entwicklungsprozessen verbessern.

Abschließend ist das Atomkraftmikroskop ein hochmodernes Instrument, das mehrmodische Messfunktionen bietet, Oberflächenanalysen auf atomarer Auflösung,und hochpräzise BildgebungMit seinen fortschrittlichen Funktionen und vielseitigen Bildmodus,Dieses Mikroskop ist ein unverzichtbares Werkzeug für Forscher, die die komplizierte Welt von Nanostrukturen und Materialien erforschen und verstehen wollen..

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Probenstufe: Piezoantriebene XYZ-Stufe
• Probegröße: bis zu 25 mm
• Auflösung: 0,04 nm (Nanometer Auflösung)
• Geschwindigkeit des Scans: 0,1-30 Hz
• Bildgebungsarten: Topographie, Phase, Reibung, Seitenkraft, Magnetkraft, Elektrostatische Kraft

Technische Parameter:

Anwendungen:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, das ursprünglich aus China stammt, ist ein hochmodernes Werkzeug, das für die Charakterisierung auf Nanoskala in einer Vielzahl von Anwendungen und Szenarien entwickelt wurde.Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten, ist dieses Mikroskop für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen geeignet.

Das AtomEdge Pro ist mit einer piezo-getriebenen XYZ-Stufe ausgestattet, die eine präzise Probenmanipulation und Positionierung ermöglicht.Dieses Merkmal ist für die Durchführung detaillierter Messungen und Bildgebungen auf Nanomassenebene unerlässlich.Das Mikroskop verfügt über eine beeindruckende Auflösung von 0,04 nm und ermöglicht es Benutzern, hochauflösende Bilder mit außergewöhnlicher Klarheit aufzunehmen.

Eine der wichtigsten Stärken des AtomEdge Pro ist seine Vielseitigkeit in den Bildmodus. Es unterstützt mehrere Modi, einschließlich Topographie, Phase, Reibung, seitliche Kraft, magnetische Kraft,und elektrostatische KraftDiese mehrmodische Messfähigkeit ermöglicht es den Forschern, umfassende Daten über verschiedene Oberflächen-Eigenschaften und Wechselwirkungen zu sammeln.

Darüber hinaus bietet der AtomEdge Pro einen breiten Scanning-Bereich von 100 μm X 100 μm X 10 μm, so dass Benutzer größere Probenflächen erforschen können, während gleichzeitig eine hohe Präzision und Genauigkeit erhalten bleibt.Durch diese größere Reichweite ist das Mikroskop ideal für die Analyse verschiedener Probenarten und -größen geeignet.

Ob in akademischen Forschungslabors, industriellen Forschungs- und Entwicklungseinrichtungen oder bei Anwendungen zur Qualitätskontrolle,Das Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope bietet detaillierte Einblicke in nanoskalige Strukturen und Eigenschaften.Der hohe Scangeschwindigkeitsbereich von 0,1 Hz bis 30 Hz sorgt für eine effiziente Datenerfassung und eignet sich somit für zeitkritische Experimente und Produktionsprozesse.

Abschließend ist das AtomEdge Pro ein leistungsfähiges Werkzeug für die Charakterisierung im Nanobereich, das einzigartige Fähigkeiten in der Scanning Force-Mikroskopie und Multimode-Messung bietet.Seine fortschrittlichen Funktionen und seine zuverlässige Leistung machen ihn zu einem wertvollen Werkzeug für Wissenschaftler, Ingenieure und Forscher, die in verschiedenen Bereichen arbeiten.