logo

0میکروسکوپ نیروی اتمی 0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ AFM برای تجزیه و تحلیل دقیق سطح در مقیاس نانو

Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed examination of samples with a size of up to 25 mm, providing researchers with invaluable insights into various materials and structures. One of the key features of the Atomic Force
جزئیات محصول
برجسته کردن:

0میکروسکوپ نیروی اتمی.04nm,میکروسکوپ نیروی اتمی 0.1 هرتز,میکروسکوپ AFM 30 هرتز

,

Atomic Force Microscope 0.1Hz

,

30Hz AFM Microscope

Name: میکروسکوپ نیروی اتمی
Sample Size: تا 25 میلی متر
Resolution: 0.04 نیوتن متر
Sample Stage: مرحله XYZ محور پیزو
Imaging Modes: توپوگرافی ، فاز ، اصطکاک ، نیروی جانبی ، نیروی مغناطیسی ، نیروی الکترواستاتیک
Scanning Range: 100 میکرومتر در 100 میکرومتر در 10 میکرومتر
Scan Speed: 0.1Hz-30Hz

ویژگی های اساسی

نام تجاری: Truth Instruments
شماره مدل: Atomedge Pro

املاک تجاری

قیمت: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
شرایط پرداخت: t/t
توضیحات محصول

میکروسکوپ نیروی اتمی برای تجزیه و تحلیل دقیق سطوح در مقیاس نانو

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که قابلیت‌های اندازه‌گیری چند حالته را برای تجزیه و تحلیل سطح در سطح وضوح اتمی ارائه می‌دهد. این میکروسکوپ پیشرفته امکان بررسی دقیق نمونه‌ها را تا اندازه 25 میلی‌متر فراهم می‌کند و بینش‌های ارزشمندی را در مورد مواد و ساختارهای مختلف در اختیار محققان قرار می‌دهد.

یکی از ویژگی‌های کلیدی میکروسکوپ نیروی اتمی، حالت‌های تصویربرداری متنوع آن است که شامل توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی و تصویربرداری نیروی الکترواستاتیک می‌شود. این طیف گسترده از حالت‌های تصویربرداری به کاربران اجازه می‌دهد تا داده‌های جامعی را در مورد خواص فیزیکی و شیمیایی نمونه‌های مورد مطالعه جمع‌آوری کنند و آن را به ابزاری ضروری برای محققان در رشته‌های مختلف تبدیل می‌کند.

با وضوح قابل توجه 0.04 نانومتر، میکروسکوپ نیروی اتمی کاربران را قادر می‌سازد تا به تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با دقت بالا دست یابند و حتی کوچکترین جزئیات را روی سطح نمونه ثبت کنند. این سطح از وضوح برای مطالعه ویژگی‌ها و ساختارهای نانومقیاس بسیار مهم است و اطلاعات حیاتی را برای تحقیقات در اختیار محققان قرار می‌دهد.

میکروسکوپ نیروی اتمی محدوده اسکن 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر را ارائه می‌دهد که امکان اسکن دقیق و دقیق نمونه‌ها را در یک ناحیه وسیع فراهم می‌کند. این محدوده اسکن وسیع آن را برای انواع کاربردها، از تحقیقات نانوتکنولوژی گرفته تا علم مواد و فراتر از آن، مناسب می‌کند.

علاوه بر این، میکروسکوپ نیروی اتمی دارای محدوده سرعت اسکن 0.1 هرتز تا 30 هرتز است که به کاربران این امکان را می‌دهد تا سرعت اسکن را با توجه به نیازهای خاص خود تنظیم کنند. این ویژگی امکان جمع‌آوری و تجزیه و تحلیل کارآمد داده‌ها را فراهم می‌کند، در زمان صرفه‌جویی می‌کند و بهره‌وری را در فرآیندهای تحقیق و توسعه افزایش می‌دهد.

در نتیجه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار پیشرفته است که قابلیت‌های اندازه‌گیری چند حالته، تجزیه و تحلیل سطح در سطح وضوح اتمی و تصویربرداری با دقت بالا را ارائه می‌دهد. این میکروسکوپ با ویژگی‌های پیشرفته و حالت‌های تصویربرداری متنوع، ابزاری ضروری برای محققانی است که به دنبال کشف و درک دنیای پیچیده ساختارها و مواد نانومقیاس هستند.

 

ویژگی‌ها:

  • نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
  • استیج نمونه: استیج XYZ با محرک پیزو
  • اندازه نمونه: تا 25 میلی‌متر
  • وضوح: 0.04 نانومتر (وضوح نانومتری)
  • سرعت اسکن: 0.1 هرتز تا 30 هرتز
  • حالت‌های تصویربرداری: توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی، نیروی الکترواستاتیک
 

پارامترهای فنی:

استیج نمونه استیج XYZ با محرک پیزو
محدوده اسکن 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر
اندازه نمونه تا 25 میلی‌متر
سرعت اسکن 0.1 هرتز تا 30 هرتز
وضوح 0.04 نانومتر
حالت‌های تصویربرداری توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی، نیروی الکترواستاتیک
 

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments AtomEdge Pro، که منشاء آن چین است، یک ابزار پیشرفته است که برای شناسایی نانومقیاس در طیف وسیعی از کاربردها و سناریوها طراحی شده است. این میکروسکوپ نیروی اسکن با ویژگی‌ها و قابلیت‌های پیشرفته خود، برای طیف گسترده‌ای از محیط‌های تحقیقاتی و صنعتی مناسب است.

AtomEdge Pro مجهز به یک استیج XYZ با محرک پیزو است که امکان دستکاری و موقعیت‌یابی دقیق نمونه را فراهم می‌کند. این ویژگی برای انجام اندازه‌گیری‌ها و تصویربرداری دقیق در سطح نانومقیاس ضروری است. این میکروسکوپ دارای وضوح چشمگیر 0.04 نانومتر است که به کاربران امکان می‌دهد تصاویر با وضوح بالا را با شفافیت استثنایی ثبت کنند.

یکی از نقاط قوت کلیدی AtomEdge Pro، تطبیق‌پذیری آن در حالت‌های تصویربرداری است. این دستگاه از حالت‌های متعددی از جمله توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی و نیروی الکترواستاتیک پشتیبانی می‌کند. این قابلیت اندازه‌گیری چند حالته به محققان اجازه می‌دهد تا داده‌های جامعی را در مورد خواص و تعاملات مختلف سطح جمع‌آوری کنند.

علاوه بر این، AtomEdge Pro محدوده اسکن وسیعی به اندازه 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر را ارائه می‌دهد که به کاربران امکان می‌دهد مناطق نمونه بزرگ‌تری را کاوش کنند و در عین حال دقت و صحت بالایی را حفظ کنند. این محدوده گسترده، میکروسکوپ را برای تجزیه و تحلیل انواع و اندازه‌های مختلف نمونه ایده‌آل می‌کند.

خواه در آزمایشگاه‌های تحقیقاتی دانشگاهی، تأسیسات تحقیق و توسعه صنعتی یا کاربردهای کنترل کیفیت، میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments AtomEdge Pro در ارائه بینش‌های دقیق در مورد ساختارها و خواص نانومقیاس عالی عمل می‌کند. محدوده سرعت اسکن بالای آن از 0.1 هرتز تا 30 هرتز، جمع‌آوری کارآمد داده‌ها را تضمین می‌کند و آن را برای آزمایش‌های حساس به زمان و فرآیندهای تولید مناسب می‌سازد.

در نتیجه، AtomEdge Pro یک ابزار قدرتمند برای شناسایی نانومقیاس است که قابلیت‌های بی‌نظیری را در میکروسکوپ نیروی اسکن و اندازه‌گیری چند حالته ارائه می‌دهد. ویژگی‌های پیشرفته و عملکرد قابل اعتماد آن، آن را به یک دارایی ارزشمند برای دانشمندان، مهندسان و محققان فعال در زمینه‌های مختلف تبدیل می‌کند.

درخواست ارسال کنید

دریافت قیمت سریع