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0.04nm परमाणु बल माइक्रोस्कोप 0.1Hz - 30Hz AFM माइक्रोस्कोप सटीक नैनोस्केल सतह विश्लेषण के लिए

Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed examination of samples with a size of up to 25 mm, providing researchers with invaluable insights into various materials and structures. One of the key features of the Atomic Force
उत्पाद का विवरण
प्रमुखता देना:

0.04nm परमाणु बल माइक्रोस्कोप

,

परमाणु बल माइक्रोस्कोप 0.1Hz

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30Hz AFM माइक्रोस्कोप

Name: परमाणु बल माइक्रोस्कोप
Sample Size: 25 मिमी तक
Resolution: 0.04NM
Sample Stage: पीजो-चालित एक्सवाईजेड स्टेज
Imaging Modes: स्थलाकृति, चरण, घर्षण, पार्श्व बल, चुंबकीय बल, इलेक्ट्रोस्टैटिक बल
Scanning Range: 100 माइक्रोन x 100 माइक्रोन x 10 माइक्रोन
Scan Speed: 0.1Hz-30Hz

मूल गुण

ब्रांड नाम: Truth Instruments
मॉडल संख्या: परमाणु -समर्थक

व्यापारिक संपत्तियाँ

कीमत: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
भुगतान की शर्तें: टी/टी
उत्पाद का वर्णन

परिशुद्ध नैनोस्केल सतह विश्लेषण के लिए परमाणु बल माइक्रोस्कोप

उत्पाद विवरण:

परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक अत्याधुनिक उपकरण है जो परमाणु रिज़ॉल्यूशन स्तर पर सतह विश्लेषण के लिए मल्टी-मोड माप क्षमताएं प्रदान करता है। यह उन्नत माइक्रोस्कोप 25 मिमी तक के आकार के नमूनों की विस्तृत जांच की अनुमति देता है, जो शोधकर्ताओं को विभिन्न सामग्रियों और संरचनाओं में अमूल्य अंतर्दृष्टि प्रदान करता है।

परमाणु बल माइक्रोस्कोप की प्रमुख विशेषताओं में से एक इसकी बहुमुखी इमेजिंग मोड है, जिसमें स्थलाकृति, चरण, घर्षण, पार्श्व बल, चुंबकीय बल और इलेक्ट्रोस्टैटिक बल इमेजिंग शामिल हैं। इमेजिंग मोड की यह विस्तृत श्रृंखला उपयोगकर्ताओं को अध्ययन के तहत नमूनों के भौतिक और रासायनिक गुणों पर व्यापक डेटा एकत्र करने की अनुमति देती है, जो इसे विभिन्न क्षेत्रों के शोधकर्ताओं के लिए एक अपरिहार्य उपकरण बनाता है।

0.04 एनएम के उल्लेखनीय रिज़ॉल्यूशन के साथ, परमाणु बल माइक्रोस्कोप उपयोगकर्ताओं को उच्च परिशुद्धता इमेजिंग और विश्लेषण प्राप्त करने में सक्षम बनाता है, यहां तक कि नमूना सतह पर सबसे छोटे विवरणों को भी कैप्चर करता है। रिज़ॉल्यूशन का यह स्तर नैनोस्केल विशेषताओं और संरचनाओं का अध्ययन करने के लिए महत्वपूर्ण है, जो शोधकर्ताओं को उनके शोध के लिए महत्वपूर्ण जानकारी प्रदान करता है।

परमाणु बल माइक्रोस्कोप 100 μm x 100 μm x 10 μm की स्कैनिंग रेंज प्रदान करता है, जो उपयोगकर्ताओं को एक विस्तृत क्षेत्र में नमूनों की विस्तृत और सटीक स्कैनिंग की अनुमति देता है। यह विस्तृत स्कैनिंग रेंज इसे नैनोप्रौद्योगिकी अनुसंधान से लेकर सामग्री विज्ञान और उससे आगे तक विभिन्न अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त बनाती है।

इसके अतिरिक्त, परमाणु बल माइक्रोस्कोप 0.1 हर्ट्ज से 30 हर्ट्ज की स्कैन गति रेंज का दावा करता है, जो उपयोगकर्ताओं को अपनी विशिष्ट आवश्यकताओं के अनुसार स्कैनिंग गति को समायोजित करने की लचीलापन प्रदान करता है। यह सुविधा कुशल डेटा अधिग्रहण और विश्लेषण को सक्षम बनाती है, जिससे समय की बचत होती है और अनुसंधान और विकास प्रक्रियाओं में उत्पादकता बढ़ती है।

निष्कर्ष में, परमाणु बल माइक्रोस्कोप एक अत्याधुनिक उपकरण है जो मल्टी-मोड माप क्षमताएं, परमाणु रिज़ॉल्यूशन स्तर पर सतह विश्लेषण और उच्च परिशुद्धता इमेजिंग प्रदान करता है। अपनी उन्नत सुविधाओं और बहुमुखी इमेजिंग मोड के साथ, यह माइक्रोस्कोप उन शोधकर्ताओं के लिए एक अपरिहार्य उपकरण है जो नैनोस्केल संरचनाओं और सामग्रियों की जटिल दुनिया का पता लगाना और समझना चाहते हैं।

 

विशेषताएँ:

  • उत्पाद का नाम: परमाणु बल माइक्रोस्कोप
  • नमूना चरण: पीजो-संचालित XYZ चरण
  • नमूना आकार: 25 मिमी तक
  • रिज़ॉल्यूशन: 0.04nm (नैनोमीटर रिज़ॉल्यूशन)
  • स्कैन गति: 0.1Hz-30Hz
  • इमेजिंग मोड: स्थलाकृति, चरण, घर्षण, पार्श्व बल, चुंबकीय बल, इलेक्ट्रोस्टैटिक बल
 

तकनीकी पैरामीटर:

नमूना चरण पीजो-संचालित XYZ चरण
स्कैनिंग रेंज 100 μm X 100 μm X 10 μm
नमूना आकार 25 मिमी तक
स्कैन गति 0.1Hz-30Hz
रिज़ॉल्यूशन 0.04nm
इमेजिंग मोड स्थलाकृति, चरण, घर्षण, पार्श्व बल, चुंबकीय बल, इलेक्ट्रोस्टैटिक बल
 

अनुप्रयोग:

ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप, जो चीन से उत्पन्न हुआ है, विभिन्न अनुप्रयोगों और परिदृश्यों में नैनोस्केल लक्षण वर्णन के लिए डिज़ाइन किया गया एक अत्याधुनिक उपकरण है। अपनी उन्नत सुविधाओं और क्षमताओं के साथ, यह स्कैनिंग फोर्स माइक्रोस्कोप विभिन्न प्रकार के अनुसंधान और औद्योगिक वातावरण के लिए उपयुक्त है।

एटमएज प्रो एक पीजो-संचालित XYZ चरण से सुसज्जित है, जो सटीक नमूना हेरफेर और स्थिति की अनुमति देता है। यह सुविधा नैनोस्केल स्तर पर विस्तृत माप और इमेजिंग करने के लिए आवश्यक है। माइक्रोस्कोप 0.04nm का एक प्रभावशाली रिज़ॉल्यूशन का दावा करता है, जो उपयोगकर्ताओं को असाधारण स्पष्टता के साथ उच्च-परिभाषा चित्र कैप्चर करने में सक्षम बनाता है।

एटमएज प्रो की प्रमुख शक्तियों में से एक इमेजिंग मोड में इसकी बहुमुखी प्रतिभा है। यह स्थलाकृति, चरण, घर्षण, पार्श्व बल, चुंबकीय बल और इलेक्ट्रोस्टैटिक बल सहित कई मोड का समर्थन करता है। यह मल्टी-मोड माप क्षमता शोधकर्ताओं को विभिन्न सतह गुणों और अंतःक्रियाओं पर व्यापक डेटा एकत्र करने की अनुमति देती है।

इसके अतिरिक्त, एटमएज प्रो 100 μm X 100 μm X 10 μm की एक विस्तृत स्कैनिंग रेंज प्रदान करता है, जो उपयोगकर्ताओं को उच्च परिशुद्धता और सटीकता बनाए रखते हुए बड़े नमूना क्षेत्रों का पता लगाने में सक्षम बनाता है। यह विस्तारित रेंज माइक्रोस्कोप को विभिन्न नमूना प्रकारों और आकारों का विश्लेषण करने के लिए आदर्श बनाती है।

चाहे वह अकादमिक अनुसंधान प्रयोगशालाओं, औद्योगिक आर एंड डी सुविधाओं या गुणवत्ता नियंत्रण अनुप्रयोगों में हो, ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप नैनोस्केल संरचनाओं और गुणों में विस्तृत अंतर्दृष्टि प्रदान करने में उत्कृष्ट है। इसकी उच्च स्कैन गति रेंज 0.1Hz से 30Hz तक कुशल डेटा अधिग्रहण सुनिश्चित करती है, जिससे यह समय-संवेदनशील प्रयोगों और उत्पादन प्रक्रियाओं के लिए उपयुक्त है।

निष्कर्ष में, एटमएज प्रो नैनोस्केल लक्षण वर्णन के लिए एक शक्तिशाली उपकरण है, जो स्कैनिंग फोर्स माइक्रोस्कोपी और मल्टी-मोड माप में अद्वितीय क्षमताएं प्रदान करता है। इसकी उन्नत विशेषताएं और विश्वसनीय प्रदर्शन इसे विभिन्न क्षेत्रों में काम करने वाले वैज्ञानिकों, इंजीनियरों और शोधकर्ताओं के लिए एक मूल्यवान संपत्ति बनाते हैं।

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