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0.04nm Microscópio de Força Atômica 0.1Hz - 30Hz Microscópio AFM para Análise de Superfície em Nanoscala Precisa

Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed examination of samples with a size of up to 25 mm, providing researchers with invaluable insights into various materials and structures. One of the key features of the Atomic Force
Detalhes do produto
Destacar:

0.04nm Microscópio de Força Atómica

,

Microscópio de Força Atómica 0.1Hz

,

Microscópio AFM de 30 Hz

Name: Microscópio de força atômica
Sample Size: até 25 mm
Resolution: 0,04nm
Sample Stage: Estágio XYZ acionado por piezo
Imaging Modes: Topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética, força eletrostática
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10 μm
Scan Speed: 0,1Hz-30Hz

Propriedades básicas

Nome da marca: Truth Instruments
Número do modelo: Atomedge Pro

Propriedades comerciais

Preço: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condições de pagamento: T/T.
Descrição do produto

Microscópio de Força Atômica para Análise Precisa da Superfície em Nanoscala

Descrição do produto:

O Microscópio de Força Atómica (AFM) é um instrumento de ponta que oferece capacidades de medição multimodo para análise de superfície a nível de resolução atómica.Este microscópio avançado permite o exame pormenorizado de amostras de até 25 mm de tamanho, proporcionando aos investigadores insights inestimáveis sobre vários materiais e estruturas.

Uma das principais características do Microscópio de Força Atômica são seus modos de imagem versáteis, que incluem topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética e imagem de força eletrostática.Esta ampla gama de modos de imagem permite aos utilizadores recolher dados completos sobre as propriedades físicas e químicas das amostras em estudo, tornando-a uma ferramenta indispensável para investigadores de diferentes domínios.

Com uma resolução notável de 0,04 nm, o Microscópio de Força Atômica permite aos utilizadores obter imagens e análises de alta precisão, capturando mesmo os mais pequenos detalhes na superfície da amostra.Este nível de resolução é crucial para estudar características e estruturas em nanoescala, fornecendo aos investigadores informações cruciais para as suas investigações.

O Microscópio de Força Atômica oferece uma faixa de varredura de 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo a varredura detalhada e precisa de amostras em uma ampla área.Esta ampla gama de digitalização torna-o adequado para uma variedade de aplicações, da investigação em nanotecnologia à ciência dos materiais e além.

Além disso, o Microscópio de Força Atômica possui uma faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz, proporcionando aos utilizadores a flexibilidade de ajustar a velocidade de varredura de acordo com as suas necessidades específicas.Esta funcionalidade permite a aquisição e análise eficientes de dados, poupando tempo e aumentando a produtividade nos processos de investigação e desenvolvimento.

Em conclusão, o Microscópio de Força Atómica é um instrumento de última geração que oferece capacidades de medição multimodo, análise de superfície a nível de resolução atómica,e imagens de alta precisãoCom as suas características avançadas e modos de imagem versáteis,Este microscópio é uma ferramenta indispensável para pesquisadores que procuram explorar e compreender o mundo intrincado das estruturas e materiais em nanoescala.

Características:

  • Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
  • Fase de amostragem: Fase XYZ com accionamento piezo
  • Tamanho da amostra: até 25 mm
  • Resolução: 0,04 nm (Resolução nanométrica)
  • Velocidade de varredura: 0,1 Hz-30 Hz
  • Modos de imagem: topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética, força eletrostática

Parâmetros técnicos:

Fase de amostragem Fase XYZ com accionamento piezo
Faixa de varredura 100 μm X 100 μm X 10 μm
Tamanho da amostra Até 25 mm
Velocidade de varredura 0.1 Hz-30 Hz
Resolução 00,04 nm
Modos de Imagem Topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética, força eletrostática

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica Pro AtomEdge, originário da China, é uma ferramenta de ponta projetada para caracterização em nanoescala em uma variedade de aplicações e cenários.Com as suas características e capacidades avançadas, este microscópio de força de varredura é adequado para uma ampla gama de ambientes de investigação e industriais.

O AtomEdge Pro está equipado com um estágio XYZ movido por piezo, permitindo manipulação e posicionamento de amostra precisos.Esta característica é essencial para a realização de medições detalhadas e imagens a nível nanométricoO microscópio possui uma resolução impressionante de 0,04 nm, permitindo aos utilizadores capturar imagens de alta definição com uma clareza excepcional.

Uma das principais forças do AtomEdge Pro é a sua versatilidade nos modos de imagem.e força eletrostáticaEsta capacidade de medição multimodo permite aos investigadores recolher dados completos sobre várias propriedades e interações da superfície.

Além disso, o AtomEdge Pro oferece uma ampla faixa de digitalização de 100 μm X 100 μm X 10 μm, permitindo aos usuários explorar áreas de amostra maiores, mantendo alta precisão e precisão.Este alcance estendido torna o microscópio ideal para analisar diversos tipos e tamanhos de amostras.

Quer seja em laboratórios de investigação académica, instalações industriais de I&D, ou aplicações de controlo de qualidade,O Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope se destaca em fornecer informações detalhadas sobre estruturas e propriedades em nanoescalaO seu alto intervalo de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz garante uma aquisição de dados eficiente, tornando-o adequado para experimentos e processos de produção sensíveis ao tempo.

Em conclusão, o AtomEdge Pro é uma ferramenta poderosa para caracterização em nanoescala, oferecendo capacidades incomparáveis em microscopia de força de varredura e medição multimodo.Suas características avançadas e seu desempenho confiável tornam-no um recurso valioso para os cientistas, engenheiros e pesquisadores que trabalham em vários campos.

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