
0.04nm Microscópio de Força Atômica 0.1Hz - 30Hz Microscópio AFM para Análise de Superfície em Nanoscala Precisa
0.04nm Microscópio de Força Atómica
,Microscópio de Força Atómica 0.1Hz
,Microscópio AFM de 30 Hz
Propriedades básicas
Propriedades comerciais
Microscópio de Força Atômica para Análise Precisa da Superfície em Nanoscala
Descrição do produto:
O Microscópio de Força Atómica (AFM) é um instrumento de ponta que oferece capacidades de medição multimodo para análise de superfície a nível de resolução atómica.Este microscópio avançado permite o exame pormenorizado de amostras de até 25 mm de tamanho, proporcionando aos investigadores insights inestimáveis sobre vários materiais e estruturas.
Uma das principais características do Microscópio de Força Atômica são seus modos de imagem versáteis, que incluem topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética e imagem de força eletrostática.Esta ampla gama de modos de imagem permite aos utilizadores recolher dados completos sobre as propriedades físicas e químicas das amostras em estudo, tornando-a uma ferramenta indispensável para investigadores de diferentes domínios.
Com uma resolução notável de 0,04 nm, o Microscópio de Força Atômica permite aos utilizadores obter imagens e análises de alta precisão, capturando mesmo os mais pequenos detalhes na superfície da amostra.Este nível de resolução é crucial para estudar características e estruturas em nanoescala, fornecendo aos investigadores informações cruciais para as suas investigações.
O Microscópio de Força Atômica oferece uma faixa de varredura de 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo a varredura detalhada e precisa de amostras em uma ampla área.Esta ampla gama de digitalização torna-o adequado para uma variedade de aplicações, da investigação em nanotecnologia à ciência dos materiais e além.
Além disso, o Microscópio de Força Atômica possui uma faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz, proporcionando aos utilizadores a flexibilidade de ajustar a velocidade de varredura de acordo com as suas necessidades específicas.Esta funcionalidade permite a aquisição e análise eficientes de dados, poupando tempo e aumentando a produtividade nos processos de investigação e desenvolvimento.
Em conclusão, o Microscópio de Força Atómica é um instrumento de última geração que oferece capacidades de medição multimodo, análise de superfície a nível de resolução atómica,e imagens de alta precisãoCom as suas características avançadas e modos de imagem versáteis,Este microscópio é uma ferramenta indispensável para pesquisadores que procuram explorar e compreender o mundo intrincado das estruturas e materiais em nanoescala.
Características:
- Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
- Fase de amostragem: Fase XYZ com accionamento piezo
- Tamanho da amostra: até 25 mm
- Resolução: 0,04 nm (Resolução nanométrica)
- Velocidade de varredura: 0,1 Hz-30 Hz
- Modos de imagem: topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética, força eletrostática
Parâmetros técnicos:
Fase de amostragem | Fase XYZ com accionamento piezo |
Faixa de varredura | 100 μm X 100 μm X 10 μm |
Tamanho da amostra | Até 25 mm |
Velocidade de varredura | 0.1 Hz-30 Hz |
Resolução | 00,04 nm |
Modos de Imagem | Topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética, força eletrostática |
Aplicações:
O Microscópio de Força Atômica Pro AtomEdge, originário da China, é uma ferramenta de ponta projetada para caracterização em nanoescala em uma variedade de aplicações e cenários.Com as suas características e capacidades avançadas, este microscópio de força de varredura é adequado para uma ampla gama de ambientes de investigação e industriais.
O AtomEdge Pro está equipado com um estágio XYZ movido por piezo, permitindo manipulação e posicionamento de amostra precisos.Esta característica é essencial para a realização de medições detalhadas e imagens a nível nanométricoO microscópio possui uma resolução impressionante de 0,04 nm, permitindo aos utilizadores capturar imagens de alta definição com uma clareza excepcional.
Uma das principais forças do AtomEdge Pro é a sua versatilidade nos modos de imagem.e força eletrostáticaEsta capacidade de medição multimodo permite aos investigadores recolher dados completos sobre várias propriedades e interações da superfície.
Além disso, o AtomEdge Pro oferece uma ampla faixa de digitalização de 100 μm X 100 μm X 10 μm, permitindo aos usuários explorar áreas de amostra maiores, mantendo alta precisão e precisão.Este alcance estendido torna o microscópio ideal para analisar diversos tipos e tamanhos de amostras.
Quer seja em laboratórios de investigação académica, instalações industriais de I&D, ou aplicações de controlo de qualidade,O Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope se destaca em fornecer informações detalhadas sobre estruturas e propriedades em nanoescalaO seu alto intervalo de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz garante uma aquisição de dados eficiente, tornando-o adequado para experimentos e processos de produção sensíveis ao tempo.
Em conclusão, o AtomEdge Pro é uma ferramenta poderosa para caracterização em nanoescala, oferecendo capacidades incomparáveis em microscopia de força de varredura e medição multimodo.Suas características avançadas e seu desempenho confiável tornam-no um recurso valioso para os cientistas, engenheiros e pesquisadores que trabalham em vários campos.