Microscopio a forza atomica da 0,04 nm, 0,1 Hz - 30 Hz, per analisi di superficie nanoscopiche precise

Descrizione del Prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia che offre capacità di misurazione multi-modo per l'analisi delle superfici a livello di risoluzione atomica. Questo microscopio avanzato consente l'esame dettagliato di campioni fino a 25 mm, fornendo ai ricercatori informazioni preziose su vari materiali e strutture.

Una delle caratteristiche principali del Microscopio a Forza Atomica sono le sue versatili modalità di imaging, che includono topografia, fase, attrito, forza laterale, forza magnetica e imaging della forza elettrostatica. Questa vasta gamma di modalità di imaging consente agli utenti di raccogliere dati completi sulle proprietà fisiche e chimiche dei campioni in studio, rendendolo uno strumento indispensabile per i ricercatori in diversi campi.

Con una notevole risoluzione di 0,04 nm, il Microscopio a Forza Atomica consente agli utenti di ottenere imaging e analisi ad alta precisione, catturando anche i più piccoli dettagli sulla superficie del campione. Questo livello di risoluzione è fondamentale per lo studio di caratteristiche e strutture su scala nanometrica, fornendo ai ricercatori informazioni cruciali per le loro indagini.

Il Microscopio a Forza Atomica offre un intervallo di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm, consentendo la scansione dettagliata e accurata dei campioni su un'ampia area. Questo ampio intervallo di scansione lo rende adatto a una varietà di applicazioni, dalla ricerca sulla nanotecnologia alla scienza dei materiali e oltre.

Inoltre, il Microscopio a Forza Atomica vanta un intervallo di velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz, offrendo agli utenti la flessibilità di regolare la velocità di scansione in base alle proprie esigenze specifiche. Questa funzione consente l'acquisizione e l'analisi efficiente dei dati, risparmiando tempo e migliorando la produttività nei processi di ricerca e sviluppo.

In conclusione, il Microscopio a Forza Atomica è uno strumento all'avanguardia che offre capacità di misurazione multi-modo, analisi delle superfici a livello di risoluzione atomica e imaging ad alta precisione. Con le sue funzionalità avanzate e le versatili modalità di imaging, questo microscopio è uno strumento indispensabile per i ricercatori che desiderano esplorare e comprendere l'intricato mondo delle strutture e dei materiali su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del Prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Stadio del Campione: Stadio XYZ a comando piezoelettrico
• Dimensione del Campione: Fino a 25 mm
• Risoluzione: 0,04 nm (Risoluzione nanometrica)
• Velocità di Scansione: 0,1 Hz-30 Hz
• Modalità di Imaging: Topografia, Fase, Attrito, Forza Laterale, Forza Magnetica, Forza Elettrostatica

Parametri Tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica Truth Instruments AtomEdge Pro, originario della Cina, è uno strumento all'avanguardia progettato per la caratterizzazione su scala nanometrica in una varietà di applicazioni e scenari. Con le sue funzionalità e capacità avanzate, questo microscopio a forza di scansione è adatto a un'ampia gamma di ambienti di ricerca e industriali.

L'AtomEdge Pro è dotato di uno stadio XYZ a comando piezoelettrico, che consente la manipolazione e il posizionamento precisi del campione. Questa funzione è essenziale per condurre misurazioni e imaging dettagliati a livello nanometrico. Il microscopio vanta un'impressionante risoluzione di 0,04 nm, consentendo agli utenti di acquisire immagini ad alta definizione con eccezionale chiarezza.

Uno dei punti di forza chiave dell'AtomEdge Pro è la sua versatilità nelle modalità di imaging. Supporta più modalità, tra cui topografia, fase, attrito, forza laterale, forza magnetica e forza elettrostatica. Questa capacità di misurazione multi-modo consente ai ricercatori di raccogliere dati completi su varie proprietà e interazioni della superficie.

Inoltre, l'AtomEdge Pro offre un ampio intervallo di scansione di 100 μm X 100 μm X 10 μm, consentendo agli utenti di esplorare aree di campionamento più ampie mantenendo al contempo elevata precisione e accuratezza. Questo intervallo esteso rende il microscopio ideale per l'analisi di diversi tipi e dimensioni di campioni.

Sia nei laboratori di ricerca accademici, nelle strutture di ricerca e sviluppo industriali o nelle applicazioni di controllo qualità, il Microscopio a Forza Atomica Truth Instruments AtomEdge Pro eccelle nel fornire informazioni dettagliate su strutture e proprietà su scala nanometrica. La sua elevata velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz garantisce un'efficiente acquisizione dei dati, rendendolo adatto a esperimenti sensibili al tempo e ai processi di produzione.

In conclusione, l'AtomEdge Pro è un potente strumento per la caratterizzazione su scala nanometrica, che offre capacità senza pari nella microscopia a forza di scansione e nella misurazione multi-modo. Le sue funzionalità avanzate e le prestazioni affidabili lo rendono una risorsa preziosa per scienziati, ingegneri e ricercatori che lavorano in vari campi.