0.04nm Mikroskop Kekuatan Atom 0.1Hz - 30Hz Mikroskop AFM Untuk Analisis Permukaan Nanoscale yang Tepat

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang menawarkan kemampuan pengukuran multi-mode untuk analisis permukaan pada tingkat resolusi atom. Mikroskop canggih ini memungkinkan pemeriksaan sampel secara rinci dengan ukuran hingga 25 mm, memberikan wawasan berharga kepada para peneliti tentang berbagai bahan dan struktur.

Salah satu fitur utama dari Mikroskop Gaya Atom adalah mode pencitraan serbagunanya, yang mencakup topografi, fase, gesekan, gaya lateral, gaya magnetik, dan pencitraan gaya elektrostatik. Berbagai mode pencitraan ini memungkinkan pengguna untuk mengumpulkan data komprehensif tentang sifat fisik dan kimia dari sampel yang sedang dipelajari, menjadikannya alat yang sangat diperlukan bagi para peneliti di berbagai bidang.

Dengan resolusi luar biasa sebesar 0,04 nm, Mikroskop Gaya Atom memungkinkan pengguna untuk mencapai pencitraan dan analisis presisi tinggi, menangkap bahkan detail terkecil pada permukaan sampel. Tingkat resolusi ini sangat penting untuk mempelajari fitur dan struktur skala nano, memberikan informasi penting kepada para peneliti untuk penyelidikan mereka.

Mikroskop Gaya Atom menawarkan rentang pemindaian 100 μm x 100 μm x 10 μm, memungkinkan pemindaian sampel yang detail dan akurat di area yang luas. Rentang pemindaian yang luas ini membuatnya cocok untuk berbagai aplikasi, mulai dari penelitian nanoteknologi hingga ilmu material dan seterusnya.

Selain itu, Mikroskop Gaya Atom menawarkan rentang kecepatan pemindaian 0,1 Hz hingga 30 Hz, memberikan fleksibilitas kepada pengguna untuk menyesuaikan kecepatan pemindaian sesuai dengan kebutuhan spesifik mereka. Fitur ini memungkinkan perolehan dan analisis data yang efisien, menghemat waktu dan meningkatkan produktivitas dalam proses penelitian dan pengembangan.

Kesimpulannya, Mikroskop Gaya Atom adalah instrumen canggih yang menawarkan kemampuan pengukuran multi-mode, analisis permukaan pada tingkat resolusi atom, dan pencitraan presisi tinggi. Dengan fitur-fitur canggih dan mode pencitraan serbagunanya, mikroskop ini adalah alat yang sangat diperlukan bagi para peneliti yang ingin menjelajahi dan memahami dunia rumit dari struktur dan bahan skala nano.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Meja Sampel: Meja XYZ yang digerakkan piezo
• Ukuran Sampel: Hingga 25 Mm
• Resolusi: 0,04nm (Resolusi Nanometer)
• Kecepatan Pemindaian: 0,1Hz-30Hz
• Mode Pencitraan: Topografi, Fase, Gesekan, Gaya Lateral, Gaya Magnetik, Gaya Elektrostatik

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Gaya Atom Truth Instruments AtomEdge Pro, yang berasal dari China, adalah alat canggih yang dirancang untuk karakterisasi skala nano di berbagai aplikasi dan skenario. Dengan fitur dan kemampuannya yang canggih, mikroskop gaya pemindaian ini cocok untuk berbagai lingkungan penelitian dan industri.

AtomEdge Pro dilengkapi dengan meja XYZ yang digerakkan piezo, memungkinkan manipulasi dan penempatan sampel yang presisi. Fitur ini sangat penting untuk melakukan pengukuran dan pencitraan terperinci pada tingkat skala nano. Mikroskop ini menawarkan resolusi yang mengesankan sebesar 0,04nm, memungkinkan pengguna untuk menangkap gambar definisi tinggi dengan kejernihan yang luar biasa.

Salah satu kekuatan utama dari AtomEdge Pro adalah keserbagunaannya dalam mode pencitraan. Mendukung berbagai mode, termasuk topografi, fase, gesekan, gaya lateral, gaya magnetik, dan gaya elektrostatik. Kemampuan pengukuran multi-mode ini memungkinkan para peneliti untuk mengumpulkan data komprehensif tentang berbagai sifat dan interaksi permukaan.

Selanjutnya, AtomEdge Pro menawarkan rentang pemindaian yang luas sebesar 100 μm X 100 μm X 10 μm, memungkinkan pengguna untuk menjelajahi area sampel yang lebih besar sambil mempertahankan presisi dan akurasi yang tinggi. Rentang yang diperluas ini membuat mikroskop ini ideal untuk menganalisis berbagai jenis dan ukuran sampel.

Baik di laboratorium penelitian akademik, fasilitas R&D industri, atau aplikasi kontrol kualitas, Mikroskop Gaya Atom Truth Instruments AtomEdge Pro unggul dalam memberikan wawasan terperinci tentang struktur dan sifat skala nano. Rentang kecepatan pemindaiannya yang tinggi dari 0,1Hz hingga 30Hz memastikan perolehan data yang efisien, membuatnya cocok untuk eksperimen yang sensitif terhadap waktu dan proses produksi.

Kesimpulannya, AtomEdge Pro adalah alat yang ampuh untuk karakterisasi skala nano, menawarkan kemampuan tak tertandingi dalam mikroskopi gaya pemindaian dan pengukuran multi-mode. Fitur-fitur canggih dan kinerjanya yang andal menjadikannya aset berharga bagi para ilmuwan, insinyur, dan peneliti yang bekerja di berbagai bidang.