0.04nm Microscope de force atomique 0.1Hz - 30Hz Microscope AFM pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique précise

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes pour l'analyse de surface au niveau de la résolution atomique. Ce microscope avancé permet l'examen détaillé d'échantillons d'une taille allant jusqu'à 25 mm, offrant aux chercheurs des informations précieuses sur divers matériaux et structures.

L'une des principales caractéristiques du microscope à force atomique est ses modes d'imagerie polyvalents, qui incluent la topographie, la phase, le frottement, la force latérale, la force magnétique et l'imagerie de la force électrostatique. Cette large gamme de modes d'imagerie permet aux utilisateurs de collecter des données complètes sur les propriétés physiques et chimiques des échantillons étudiés, ce qui en fait un outil indispensable pour les chercheurs de différents domaines.

Avec une résolution remarquable de 0,04 nm, le microscope à force atomique permet aux utilisateurs d'obtenir une imagerie et une analyse de haute précision, capturant même les plus petits détails sur la surface de l'échantillon. Ce niveau de résolution est crucial pour l'étude des caractéristiques et des structures à l'échelle nanométrique, fournissant aux chercheurs des informations cruciales pour leurs recherches.

Le microscope à force atomique offre une plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm, permettant un balayage détaillé et précis des échantillons sur une large zone. Cette large plage de balayage le rend adapté à une variété d'applications, de la recherche en nanotechnologie à la science des matériaux et au-delà.

De plus, le microscope à force atomique dispose d'une plage de vitesse de balayage de 0,1 Hz à 30 Hz, offrant aux utilisateurs la flexibilité d'ajuster la vitesse de balayage en fonction de leurs exigences spécifiques. Cette fonctionnalité permet une acquisition et une analyse efficaces des données, ce qui permet de gagner du temps et d'améliorer la productivité dans les processus de recherche et de développement.

En conclusion, le microscope à force atomique est un instrument de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes, une analyse de surface au niveau de la résolution atomique et une imagerie de haute précision. Avec ses fonctionnalités avancées et ses modes d'imagerie polyvalents, ce microscope est un outil indispensable pour les chercheurs qui cherchent à explorer et à comprendre le monde complexe des structures et des matériaux à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Plateau porte-échantillon : Plateau XYZ piézoélectrique
• Taille de l'échantillon : Jusqu'à 25 mm
• Résolution : 0,04 nm (résolution nanométrique)
• Vitesse de balayage : 0,1 Hz-30 Hz
• Modes d'imagerie : Topographie, phase, frottement, force latérale, force magnétique, force électrostatique

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un outil de pointe conçu pour la caractérisation à l'échelle nanométrique dans une variété d'applications et de scénarios. Avec ses fonctionnalités et ses capacités avancées, ce microscope à force à balayage convient à un large éventail d'environnements de recherche et industriels.

L'AtomEdge Pro est équipé d'un plateau XYZ piézoélectrique, permettant une manipulation et un positionnement précis des échantillons. Cette fonctionnalité est essentielle pour effectuer des mesures et une imagerie détaillées à l'échelle nanométrique. Le microscope affiche une résolution impressionnante de 0,04 nm, permettant aux utilisateurs de capturer des images haute définition avec une clarté exceptionnelle.

L'un des principaux atouts de l'AtomEdge Pro est sa polyvalence en matière de modes d'imagerie. Il prend en charge plusieurs modes, notamment la topographie, la phase, le frottement, la force latérale, la force magnétique et la force électrostatique. Cette capacité de mesure multi-modes permet aux chercheurs de collecter des données complètes sur diverses propriétés et interactions de surface.

De plus, l'AtomEdge Pro offre une large plage de balayage de 100 µm X 100 µm X 10 µm, permettant aux utilisateurs d'explorer des zones d'échantillon plus grandes tout en maintenant une haute précision et une grande exactitude. Cette plage étendue rend le microscope idéal pour l'analyse de divers types et tailles d'échantillons.

Que ce soit dans les laboratoires de recherche universitaires, les installations de R&D industrielles ou les applications de contrôle qualité, le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments excelle à fournir des informations détaillées sur les structures et les propriétés à l'échelle nanométrique. Sa plage de vitesse de balayage élevée de 0,1 Hz à 30 Hz garantit une acquisition efficace des données, ce qui le rend adapté aux expériences sensibles au temps et aux processus de production.

En conclusion, l'AtomEdge Pro est un outil puissant pour la caractérisation à l'échelle nanométrique, offrant des capacités inégalées en microscopie à force à balayage et en mesure multi-modes. Ses fonctionnalités avancées et ses performances fiables en font un atout précieux pour les scientifiques, les ingénieurs et les chercheurs travaillant dans divers domaines.