Mikroskop sił atomowych 0,04nm 0,1Hz - 30Hz Mikroskop AFM do precyzyjnej analizy powierzchni w nanoskali

Opis produktu:

Mikroskop siły atomowej (AFM) to najnowocześniejszy instrument, który oferuje możliwości pomiaru wielowarunkowego do analizy powierzchni na poziomie rozdzielczości atomowej.Ten zaawansowany mikroskop umożliwia szczegółowe badanie próbek o rozmiarach do 25 mm, zapewniając naukowcom nieocenione informacje na temat różnych materiałów i struktur.

Jedną z kluczowych cech mikroskopu sił atomowych jest jego wszechstronny tryb obrazowania, który obejmuje topografię, fazę, tarcie, siłę boczną, siłę magnetyczną i obrazowanie sił elektrostatycznych.Ten szeroki zakres trybów obrazowania umożliwia użytkownikom gromadzenie kompleksowych danych na temat właściwości fizycznych i chemicznych badanych próbek, co czyni go niezbędnym narzędziem dla badaczy z różnych dziedzin.

Dzięki niezwykłej rozdzielczości 0,04 nm mikroskop sił atomowych umożliwia użytkownikom uzyskanie wysokiej precyzji obrazowania i analizy, rejestrując nawet najmniejsze szczegóły na powierzchni próbki.Ten poziom rozdzielczości ma kluczowe znaczenie dla badań cech i struktur w nanoskali, zapewniając naukowcom kluczowe informacje dla ich badań.

Mikroskop siły atomowej oferuje zakres skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm, umożliwiając szczegółowe i dokładne skanowanie próbek na szerokim obszarze.Ten szeroki zakres skanowania sprawia, że nadaje się do różnych zastosowań, od badań nad nanotechnologią po naukę o materiałach i dalej.

Ponadto mikroskop sił atomowych posiada zakres prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz, zapewniając użytkownikom elastyczność dostosowywania prędkości skanowania zgodnie z ich konkretnymi wymaganiami.Ta funkcja umożliwia efektywne pozyskiwanie i analizę danych, oszczędzając czas i zwiększając wydajność w procesach badań i rozwoju.

Podsumowując, Mikroskop sił atomowych to najnowocześniejszy instrument, który oferuje możliwości pomiaru wielowarunkowego, analizę powierzchni na poziomie rozdzielczości atomowej,i wysokiej precyzji obrazowaniaZ zaawansowanymi funkcjami i wszechstronnymi trybami obrazowania,Ten mikroskop jest niezastąpionym narzędziem dla naukowców, którzy chcą badać i rozumieć skomplikowany świat struktur i materiałów w nanoskali..

Charakterystyka:

• Nazwa produktu: Mikroskop siły atomowej
• Etap próbkowania: Etap XYZ z napędem piezo
• Wielkość próbki: do 25 mm
• Rozstrzygnięcie: 0,04 nm (rozstrzygnięcie nanometrowe)
• Prędkość skanowania: 0,1 Hz-30 Hz
• Tryby obrazowania: topografia, faza, tarcie, siła boczna, siła magnetyczna, siła elektrostatyczna

Parametry techniczne:

Zastosowanie:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, pochodzący z Chin, jest najnowocześniejszym narzędziem zaprojektowanym do charakterystyki nanoskali w różnych zastosowaniach i scenariuszach.Z jego zaawansowanymi funkcjami i możliwościamiMikroskop ten nadaje się do szerokiego zakresu badań naukowych i środowisk przemysłowych.

AtomEdge Pro jest wyposażony w piezo napędzany etap XYZ, umożliwiający precyzyjną manipulację próbką i pozycjonowanie.Ta cecha jest niezbędna do przeprowadzania szczegółowych pomiarów i obrazowania na poziomie nanoskalowymMikroskop posiada imponującą rozdzielczość 0,04 nm, umożliwiając użytkownikom uchwycenie obrazów o wysokiej rozdzielczości z wyjątkową czystością.

Jedną z głównych mocnych stron AtomEdge Pro jest jego wszechstronność w trybach obrazowania.i siła elektrostatycznaTa możliwość pomiaru wielowarunkowego pozwala badaczom zbierać kompleksowe dane na temat różnych właściwości powierzchni i interakcji.

Ponadto AtomEdge Pro oferuje szeroki zakres skanowania 100 μm X 100 μm X 10 μm, umożliwiając użytkownikom eksplorowanie większych obszarów próbkowych przy zachowaniu wysokiej precyzji i dokładności.Dzięki temu mikroskop jest idealny do analizy różnych rodzajów i wielkości próbek.

Czy to w akademickich laboratoriach badawczych, przemysłowych zakładach badawczo-rozwojowych, czy aplikacjach kontroli jakości,Mikroskop siły atomowej Truth Instruments AtomEdge Pro doskonale sprawdza się w dostarczaniu szczegółowych informacji na temat struktur i właściwości w nanoskaliJego wysoki zakres prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz zapewnia efektywne pozyskiwanie danych, co czyni go odpowiednim do eksperymentów i procesów produkcyjnych wymagających czasu.

Podsumowując, AtomEdge Pro jest potężnym narzędziem do charakterystyki w nanoskalach, oferującym niezrównane możliwości w mikroskopii siłowej i pomiarach wielowarunkowych.Jego zaawansowane funkcje i niezawodne działanie sprawiają, że jest cennym atutem dla naukowców, inżynierów i naukowców pracujących w różnych dziedzinach.