Microscopio de fuerza atómica de 0.04 nm, 0.1 Hz - 30 Hz, microscopio AFM para análisis preciso de superficies a nanoescala

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia que ofrece capacidades de medición multimodo para el análisis de superficies a nivel de resolución atómica. Este microscopio avanzado permite el examen detallado de muestras de hasta 25 mm, proporcionando a los investigadores información invaluable sobre diversos materiales y estructuras.

Una de las características clave del Microscopio de Fuerza Atómica son sus modos de imagen versátiles, que incluyen topografía, fase, fricción, fuerza lateral, fuerza magnética e imagen de fuerza electrostática. Esta amplia gama de modos de imagen permite a los usuarios recopilar datos completos sobre las propiedades físicas y químicas de las muestras en estudio, lo que lo convierte en una herramienta indispensable para los investigadores de diferentes campos.

Con una resolución notable de 0.04 nm, el Microscopio de Fuerza Atómica permite a los usuarios lograr imágenes y análisis de alta precisión, capturando incluso los detalles más pequeños en la superficie de la muestra. Este nivel de resolución es crucial para estudiar características y estructuras a nanoescala, proporcionando a los investigadores información crucial para sus investigaciones.

El Microscopio de Fuerza Atómica ofrece un rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm, lo que permite un escaneo detallado y preciso de muestras en un área amplia. Este amplio rango de escaneo lo hace adecuado para una variedad de aplicaciones, desde la investigación en nanotecnología hasta la ciencia de materiales y más allá.

Además, el Microscopio de Fuerza Atómica cuenta con un rango de velocidad de escaneo de 0.1 Hz a 30 Hz, lo que brinda a los usuarios la flexibilidad de ajustar la velocidad de escaneo de acuerdo con sus requisitos específicos. Esta característica permite la adquisición y el análisis eficientes de datos, lo que ahorra tiempo y mejora la productividad en los procesos de investigación y desarrollo.

En conclusión, el Microscopio de Fuerza Atómica es un instrumento de última generación que ofrece capacidades de medición multimodo, análisis de superficies a nivel de resolución atómica e imágenes de alta precisión. Con sus características avanzadas y modos de imagen versátiles, este microscopio es una herramienta indispensable para los investigadores que buscan explorar y comprender el intrincado mundo de las estructuras y materiales a nanoescala.

Características:

• Nombre del Producto: Microscopio de Fuerza Atómica
• Etapa de la Muestra: Etapa XYZ impulsada por piezo
• Tamaño de la Muestra: Hasta 25 mm
• Resolución: 0.04 nm (Resolución de nanómetros)
• Velocidad de Escaneo: 0.1Hz-30Hz
• Modos de Imagen: Topografía, Fase, Fricción, Fuerza Lateral, Fuerza Magnética, Fuerza Electrostática

Parámetros Técnicos:

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica Truth Instruments AtomEdge Pro, originario de China, es una herramienta de vanguardia diseñada para la caracterización a nanoescala en una variedad de aplicaciones y escenarios. Con sus características y capacidades avanzadas, este microscopio de fuerza de barrido es adecuado para una amplia gama de entornos de investigación e industriales.

El AtomEdge Pro está equipado con una etapa XYZ impulsada por piezo, lo que permite la manipulación y el posicionamiento precisos de la muestra. Esta característica es esencial para realizar mediciones e imágenes detalladas a nivel de nanoescala. El microscopio cuenta con una impresionante resolución de 0.04 nm, lo que permite a los usuarios capturar imágenes de alta definición con una claridad excepcional.

Una de las fortalezas clave del AtomEdge Pro es su versatilidad en los modos de imagen. Admite múltiples modos, incluyendo topografía, fase, fricción, fuerza lateral, fuerza magnética y fuerza electrostática. Esta capacidad de medición multimodo permite a los investigadores recopilar datos completos sobre diversas propiedades e interacciones de la superficie.

Además, el AtomEdge Pro ofrece un amplio rango de escaneo de 100 μm X 100 μm X 10 μm, lo que permite a los usuarios explorar áreas de muestra más grandes manteniendo una alta precisión y exactitud. Este rango extendido hace que el microscopio sea ideal para analizar diversos tipos y tamaños de muestras.

Ya sea en laboratorios de investigación académica, instalaciones de I+D industrial o aplicaciones de control de calidad, el Microscopio de Fuerza Atómica Truth Instruments AtomEdge Pro destaca por proporcionar información detallada sobre estructuras y propiedades a nanoescala. Su alto rango de velocidad de escaneo de 0.1Hz a 30Hz garantiza una adquisición eficiente de datos, lo que lo hace adecuado para experimentos sensibles al tiempo y procesos de producción.

En conclusión, el AtomEdge Pro es una herramienta poderosa para la caracterización a nanoescala, que ofrece capacidades incomparables en microscopía de fuerza de barrido y medición multimodo. Sus características avanzadas y su rendimiento confiable lo convierten en un activo valioso para científicos, ingenieros e investigadores que trabajan en diversos campos.