English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Bahasa Indonesia
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.04 นาโนเมตร 0.1Hz - 30Hz สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวระดับนาโนที่แม่นยำ
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.04 นาโนเมตร
,กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.1Hz
,กล้องจุลทรรศน์ AFM 30Hz
คุณสมบัติพื้นฐาน
การซื้อขายอสังหาริมทรัพย์
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวระดับนาโนสเกลที่แม่นยำ
รายละเอียดสินค้า:
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่นำเสนอความสามารถในการวัดแบบหลายโหมดสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวในระดับความละเอียดอะตอม กล้องจุลทรรศน์ขั้นสูงนี้ช่วยให้สามารถตรวจสอบตัวอย่างได้อย่างละเอียดโดยมีขนาดสูงสุดถึง 25 มม. ซึ่งให้ข้อมูลเชิงลึกอันมีค่าแก่ผู้ทำการวิจัยเกี่ยวกับวัสดุและโครงสร้างต่างๆ
หนึ่งในคุณสมบัติหลักของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมคือโหมดการถ่ายภาพที่หลากหลาย ซึ่งรวมถึงการถ่ายภาพภูมิประเทศ เฟส แรงเสียดทาน แรงด้านข้าง แรงแม่เหล็ก และแรงไฟฟ้า โหมดการถ่ายภาพที่หลากหลายนี้ช่วยให้ผู้ใช้สามารถรวบรวมข้อมูลที่ครอบคลุมเกี่ยวกับคุณสมบัติทางกายภาพและทางเคมีของตัวอย่างที่กำลังศึกษา ทำให้เป็นเครื่องมือที่ขาดไม่ได้สำหรับนักวิจัยในสาขาต่างๆ
ด้วยความละเอียดที่น่าทึ่ง 0.04 นาโนเมตร กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมช่วยให้ผู้ใช้สามารถถ่ายภาพและวิเคราะห์ด้วยความแม่นยำสูง โดยสามารถเก็บรายละเอียดที่เล็กที่สุดบนพื้นผิวตัวอย่างได้ ความละเอียดระดับนี้มีความสำคัญอย่างยิ่งสำหรับการศึกษาคุณสมบัติและโครงสร้างระดับนาโนสเกล ซึ่งให้ข้อมูลที่สำคัญแก่นักวิจัยสำหรับการตรวจสอบของพวกเขา
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมมีช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μm ทำให้สามารถสแกนตัวอย่างได้อย่างละเอียดและแม่นยำในพื้นที่กว้าง ช่วงการสแกนที่กว้างนี้ทำให้เหมาะสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย ตั้งแต่การวิจัยเทคโนโลยีนาโนไปจนถึงวิทยาศาสตร์วัสดุและอื่นๆ
นอกจากนี้ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมยังมีช่วงความเร็วในการสแกนตั้งแต่ 0.1 Hz ถึง 30 Hz ซึ่งช่วยให้ผู้ใช้มีความยืดหยุ่นในการปรับความเร็วในการสแกนตามความต้องการเฉพาะของตนเอง คุณสมบัตินี้ช่วยให้สามารถรวบรวมและวิเคราะห์ข้อมูลได้อย่างมีประสิทธิภาพ ประหยัดเวลาและเพิ่มประสิทธิภาพในการวิจัยและพัฒนากระบวนการ
โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งนำเสนอความสามารถในการวัดแบบหลายโหมด การวิเคราะห์พื้นผิวในระดับความละเอียดอะตอม และการถ่ายภาพที่มีความแม่นยำสูง ด้วยคุณสมบัติขั้นสูงและโหมดการถ่ายภาพที่หลากหลาย กล้องจุลทรรศน์นี้เป็นเครื่องมือที่ขาดไม่ได้สำหรับนักวิจัยที่ต้องการสำรวจและทำความเข้าใจโลกที่ซับซ้อนของโครงสร้างและวัสดุระดับนาโนสเกล
คุณสมบัติ:
- ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
- Sample Stage: Piezo-driven XYZ Stage
- ขนาดตัวอย่าง: สูงสุด 25 มม.
- ความละเอียด: 0.04nm (ความละเอียดนาโนเมตร)
- ความเร็วในการสแกน: 0.1Hz-30Hz
- โหมดการถ่ายภาพ: ภูมิประเทศ, เฟส, แรงเสียดทาน, แรงด้านข้าง, แรงแม่เหล็ก, แรงไฟฟ้าสถิต
พารามิเตอร์ทางเทคนิค:
| Sample Stage | Piezo-driven XYZ Stage |
| ช่วงการสแกน | 100 μm X 100 μm X 10 μm |
| ขนาดตัวอย่าง | สูงสุด 25 มม. |
| ความเร็วในการสแกน | 0.1Hz-30Hz |
| ความละเอียด | 0.04nm |
| โหมดการถ่ายภาพ | ภูมิประเทศ, เฟส, แรงเสียดทาน, แรงด้านข้าง, แรงแม่เหล็ก, แรงไฟฟ้าสถิต |
การใช้งาน:
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม Truth Instruments AtomEdge Pro ซึ่งมีต้นกำเนิดจากประเทศจีน เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการจำแนกคุณลักษณะระดับนาโนสเกลในหลากหลายแอปพลิเคชันและสถานการณ์ ด้วยคุณสมบัติและความสามารถขั้นสูง กล้องจุลทรรศน์แรงสแกนนี้จึงเหมาะสำหรับสภาพแวดล้อมการวิจัยและอุตสาหกรรมที่หลากหลาย
AtomEdge Pro มาพร้อมกับ Sample Stage แบบ Piezo-driven XYZ ซึ่งช่วยให้สามารถจัดการและวางตำแหน่งตัวอย่างได้อย่างแม่นยำ คุณสมบัตินี้จำเป็นสำหรับการดำเนินการวัดและถ่ายภาพโดยละเอียดในระดับนาโนสเกล กล้องจุลทรรศน์มีความละเอียดที่น่าประทับใจ 0.04nm ทำให้ผู้ใช้สามารถถ่ายภาพความละเอียดสูงได้อย่างชัดเจนเป็นพิเศษ
หนึ่งในจุดแข็งที่สำคัญของ AtomEdge Pro คือความสามารถรอบด้านในโหมดการถ่ายภาพ รองรับหลายโหมด รวมถึงภูมิประเทศ เฟส แรงเสียดทาน แรงด้านข้าง แรงแม่เหล็ก และแรงไฟฟ้าสถิต ความสามารถในการวัดแบบหลายโหมดนี้ช่วยให้นักวิจัยสามารถรวบรวมข้อมูลที่ครอบคลุมเกี่ยวกับคุณสมบัติและปฏิสัมพันธ์ของพื้นผิวต่างๆ
นอกจากนี้ AtomEdge Pro ยังมีช่วงการสแกนที่กว้าง 100 μm X 100 μm X 10 μm ทำให้ผู้ใช้สามารถสำรวจพื้นที่ตัวอย่างที่ใหญ่ขึ้นในขณะที่ยังคงรักษาความแม่นยำและความถูกต้องสูง ช่วงที่ขยายออกไปนี้ทำให้กล้องจุลทรรศน์เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ตัวอย่างและขนาดต่างๆ
ไม่ว่าจะอยู่ในห้องปฏิบัติการวิจัยทางวิชาการ สิ่งอำนวยความสะดวกด้านการวิจัยและพัฒนาทางอุตสาหกรรม หรือแอปพลิเคชันการควบคุมคุณภาพ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม Truth Instruments AtomEdge Pro ก็มีความโดดเด่นในการให้ข้อมูลเชิงลึกโดยละเอียดเกี่ยวกับโครงสร้างและคุณสมบัติระดับนาโนสเกล ช่วงความเร็วในการสแกนสูงตั้งแต่ 0.1Hz ถึง 30Hz ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการรวบรวมข้อมูลที่มีประสิทธิภาพ ทำให้เหมาะสำหรับการทดลองที่ต้องใช้เวลาและกระบวนการผลิต
โดยสรุป AtomEdge Pro เป็นเครื่องมืออันทรงพลังสำหรับการจำแนกคุณลักษณะระดับนาโนสเกล โดยนำเสนอความสามารถที่ไม่มีใครเทียบได้ในการสแกนกล้องจุลทรรศน์แรงและการวัดแบบหลายโหมด คุณสมบัติขั้นสูงและประสิทธิภาพที่เชื่อถือได้ทำให้เป็นสินทรัพย์ที่มีค่าสำหรับนักวิทยาศาสตร์ วิศวกร และนักวิจัยที่ทำงานในสาขาต่างๆ
