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Tracciatore di Isteresi su Scala Wafer per Metrologia Magnetica Senza Contatto
Tracciante di isteresi su scala di wafer per la metrologia magnetica senza contatto Descrizione del prodotto: Lo strumento di misura del ciclo di isteresi a livello di wafer è uno strumento all'avanguardia progettato per una caratterizzazione precisa ed efficiente delle proprietà magnetiche a ...
Stazione di sondaggio automatizzata a bassa temperatura e vuoto senza criogeno per misurazioni con dispositivi 4 K
Stazione di sonda senza criogeni per misurazioni automatizzate del dispositivo 4 K Descrizione del prodotto: La stazione della sonda criogenica è un dispositivo all'avanguardia progettato per la caratterizzazione del dispositivo criogenico privo di criogeni, economici e precisi. Con le sue ...
Stazione di prova criogenica a vuoto per test elettrici, stazione di prova automatizzata
Stazione di prova criogenica economica per test elettrici automatizzati Descrizione del prodotto: La stazione di prova criogenica è uno strumento essenziale per la caratterizzazione dei dispositivi criogenici, che offre una soluzione economica per ricercatori e ingegneri in vari settori. Questa ...
Stazione di sonda 2D aggiornabile per campi magnetici per ricerca e produzione di precisione
Stazione di sonda 2D aggiornabile per la ricerca e la produzione di precisione Descrizione del prodotto: La stazione di sonda magnetica verticale in-plane 2D è un prodotto all'avanguardia progettato per misurazioni e analisi precise dei campi magnetici in varie applicazioni. Questa avanzata stazione ...
Probe 4K ad alto vuoto: 0-67 GHz, 4-8 braccia e caratterizzazione elettrica conveniente
Descrizione del prodotto: La stazione di prova criogenica è uno strumento avanzato e versatile progettato per misurazioni precise di caratterizzazione elettrica criogenica (I-V/C-V). È progettata per soddisfare le esigenze dei ricercatori e degli ingegneri che lavorano con dispositivi a semicondutto...
Microscopio ad alta forza di scansione 0,15 nm Microscopio ad alta risoluzione per Wafe
Microscopio ad alta forza di scansione per Wafe Descrizione del prodotto: Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia utilizzato per l'imaging ad alta risoluzione e l'analisi superficiale in vari campi come la nanotecnologia, la scienza dei materiali e la biologia.Con le ...
Caratterizzazione superficiale su scala nanometrica con AtomExplorer AFM
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base è un microscopio a sonda a scansione altamente versatile e affidabile, progettato specificamente per i laboratori che cercano un'apparecchiatura AFM avanzata ma facile da usare. Questo modello offre capacità complete per la ...
Asse Z a basso rumore per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica ad alta precisione
Introduzione al prodotto Il microscopio multifunzionale a forza atomica AtomEdge Pro consente la scansione 3D, l'imaging e la caratterizzazione di materiali, dispositivi elettronici, campioni biologici e altri campioni su scala sub-nanometrica ed è ampiamente utilizzato in campi quali scienza dei ...
Sigillo di fiducia, controllo del credito, RoSH e valutazione della capacità del fornitore. L'azienda ha un sistema di controllo qualità rigoroso e un laboratorio di test professionale.
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Recentemente, il team di ricerca del Centro di Spintronics e sistemi quantistici della Scuola di Scienze e Ingegneria dei Materiali, Xi'an Jiaotong...
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Recentemente, il team di ricerca dell'Istituto di Ricerca per l'Energia Pulita e la Chimica del Carburante,La Scuola di Ingegneria Chimica...
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