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オールインワン検出プラットフォーム 材料科学のためのカスタムモジュールと多力顕微鏡
製品の説明: 原子力顕微鏡(AFM)は、表面分析において比類のない精度と多様性を提供するように設計された、最先端のナノスケール特性評価プラットフォームです。最大25 mmのサンプルサイズ容量を備えたこの機器は、ナノスケールで幅広い材料と構造を調査するのに理想的であり、さまざまな科学分野の研究者やエンジニアにとって不可欠なツールとなっています。 このAFMの際立った特徴の1つは、その優れたイメージング能力であり、走査プローブ画像の最大解像度は4096*4096サンプリングポイントを誇ります。この超高解像度により、最も微細な表面の詳細でさえ正確にキャプチャして分析できるため、詳細な地形マッピングと... -
サブナノメートル材料のナノスケール分析のためのコンタクト/タップモード
製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は,ナノスケールでの卓越した画像と測定能力を提供するために設計された高度なスキャン力顕微鏡です.精度と多様性のために設計されたこのAFMモデルは,0.1 Hzから30 Hzまでの幅広いスキャン速度をサポートし,ユーザーは特定のアプリケーションニーズに応じてスキャン速度を調整することができます.詳細な表面分析や迅速サンプル検査を行うかどうかこのツールは最適な性能と信頼性の高いデータ収集を保証します. この原子力顕微鏡の特徴の一つは 多モード操作能力です 接触モード,タップモード,相画像モード,リフトモード,そして多方向スキャンモード試料の検査方法において比類の... -
AtomExplorer: 高精度スキャン探査機顕微鏡 (SPM/AFM)
製品説明: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsこの高度な機器は,XYZ3軸全サンプルスキャン方法を採用し,ユーザは例外的な精度と詳細でサンプル表面を細かく分析することができます.材料科学... -
AtomExplorer: R&Dラボに最適な原子間力顕微鏡
製品説明:基本型原子力顕微鏡は 先端の機器で 高解像度で精密な表面分析を 高度なスキャニング能力で できるように設計されていますXYZ3軸全サンプルスキャン方法を使用するこの顕微鏡は,すべての次元で正確な地形マッピングを保証する,サンプルを包括的かつ詳細に検査することができます.この 全サンプル スキャン 能力 は 研究 者 や エンジニア たち に,表面 構造 を 極めて 細かく 繰り返し 分析 する こと を 可能にする幅広い科学および産業用用途に最適です基本型原子力顕微鏡の特徴の一つは,その多機能測定能力です. それは,静電力顕微鏡 (EFM) を実行するために装備されています.スキャン... -
ターゲットを絞った科学研究のための多機能測定(MFM/EFM)
製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は 多機能測定用に設計された高度な高度な機器で,ナノスケール画像と分析において 類を見ない多用性と精度を提供します.この最先端のAFMは,様々な測定モードを統合電気静止力顕微鏡 (EFM),ケルビン探査力顕微鏡 (KPFM),ピエゾ電気力顕微鏡 (PFM),磁力力顕微鏡 (MFM),力曲線分析を含む.ナノテクノロジーと材料科学の最前線で働く研究者や技術者にとって不可欠なツールになります. このAFMの特徴の一つは 100μm*100μm*10μmの例外的なスキャン範囲です表面の地形や特性を高精度で広範囲にわたって調査できるこの広範なスキャン機能により,解像度... -
高精度ナノスケール材料の特徴付けのためのMFM/KPFMモード
製品説明:原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,ナノスケールで比類のない画像と測定能力を提供するために設計された最先端のスキャン力顕微鏡です.XYZ3軸全サンプルスキャン方法でこのAFMは,サンプル表面の精密かつ包括的な検査を可能にし,ナノスケール研究および産業用アプリケーションで高い精度と繰り返し性を保証します.全サンプルスキャン能力により,顕微鏡はサンプル全域をスキャンできます詳細で完全な表面プロフィールを提供します. この原子力顕微鏡の特徴の一つは 直径25ミリメートルまでのサンプルとの互換性ですこの寛大なサンプルサイズ収容は,幅広い科学的調査と材... -
高精度ナノスケール材料特性評価用低ノイズZ軸
製品紹介 材料や電子機器 生物学的サンプルを 3Dスキャンし 画像撮影し 特徴付けることができます他の標本材料科学,化学,環境科学,半導体,マイクロ電子,生物医学などで広く使用されています接触を含む複数の動作モードマグネティックフォース顕微鏡などの様々な技術が統合されています.静電力顕微鏡安定性と拡張性が優れている. さらに,この技術によって,機能モジュールは,特定のユーザー要件を満たすために柔軟にカスタマイズすることができます.特定の研究分野に合わせたソリューションを提供し,高効率で多目的の検査プラットフォームを作成します. 設備の性能 ポイント 仕様 サンプルサイズ 25mm直径のサンプル... -
基本型原子力顕微鏡
製品名 ベーシック型原子間力顕微鏡 - AtomExplorer 製品紹介 AtomExplorerベーシック型原子間力顕微鏡は、材料表面のトポグラフィーとテクスチャをサブナノメートル分解能で提供します。ナノメートルからマイクロメートルのスケールで、材料表面の微細構造や微小な特徴を捉え、材料、チップ、その他のサンプルの表面トポグラフィーに関する詳細な視覚情報を提供します。この製品は、磁気力顕微鏡(MFM)、静電力顕微鏡(EFM)、ケルビン力顕微鏡(KFM)、および原子間力顕微鏡(AFM)も統合しています。高い安定性、優れた拡張性、およびカスタマイズサービスを提供します。高精度なトポグラフィー特... -
AtomExplorer: チップとナノ材料のための精密トポグラフィーツール
製品の説明:Basic型原子間力顕微鏡(AFM)は、科学研究および産業界の研究開発用途の多様なニーズに対応するために設計された、多用途で高性能な機器です。この多機能AFMは、静電フォース顕微鏡(EFM)、走査型ケルビン探針フォース顕微鏡(KPFM)、圧電フォース顕微鏡(PFM)、磁気フォース顕微鏡(MFM)などの高度な測定モードを搭載しています。これらの機能により、研究者やエンジニアは、幅広いナノスケール表面分析を実施でき、材料科学、半導体研究、ナノテクノロジー開発に不可欠なツールとなっています。このBasic型AFMの際立った特徴の1つは、最大φ25mmのサンプルに対応できることで、さまざま...