logo
Found

36

products for "

afm microscope

"
  • Универсальная платформа обнаружения – пользовательские модули и многосиловая микроскопия для материаловедения

    Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовая платформа для наноразмерной характеризации, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности в анализе поверхности. Благодаря возможности работы с образцами размером до 25 мм, этот прибор идеально подходит для ...
  • Режимы касания/касания для наноразмерного анализа субнанометровых материалов

    Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой микроскоп с помощью сканирования, предназначенный для обеспечения исключительных возможностей изображения и измерения в наномасштабе.Проектировано для точности и универсальности, эта модель AFM поддерживает широкий диапазон частот сканир...
  • AtomExplorer: высокоточный сканирующий микроскоп (SPM/AFM)

    Описание продукта: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsЭтот передовой инструмент использует трехосевой метод ска...
  • AtomExplorer: Идеальный атомно-силовой микроскоп для исследовательских лабораторий

    Описание продукта:Атомно-силовой микроскоп базового типа - это передовой прибор, предназначенный для обеспечения точного анализа поверхности с высоким разрешением с помощью передовых возможностей сканирования. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот микроскоп обеспечивает всестор...
  • Многофункциональное измерение (MFM/EFM) для целевых научных исследований

    Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый инструмент, предназначенный для многофункциональных измерений, предлагающий непревзойденную универсальность и точность в наноразмере изображения и анализа.Эта современная AFM интегрирует различные режимы измерения, включая электрост...
  • Режимы MFM/KPFM для высокоточной характеристики материалов на наномасштабе

    Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современный сканирующий силовой микроскоп, разработанный для обеспечения непревзойденных возможностей получения изображений и измерений в наномасштабе. Благодаря усовершенствованному трехкоординатному методу сканирования образца по осям XYZ, эт...
  • Малошумная Z-ось для высокоточной характеризации наноматериалов

    Введение продукта Многофункциональный атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro обеспечивает 3D-сканирование субнанометрового масштаба, визуализацию и определение характеристик материалов, электронных устройств, биологических образцов и других образцов и широко используется в таких областях, как материа...
  • Атомно-силовой микроскоп базового типа

    Название продукта Атомно-силовой микроскоп базового типа - AtomExplorer Введение в продукт Атомно-силовой микроскоп базового типа AtomExplorer обеспечивает разрешение субнанометрового уровня для наблюдения за топографией и текстурой поверхности материала. Он захватывает тонкие структуры и мельчайшие ...
  • AtomExplorer: Инструмент прецизионной топографии для чипов и наноматериалов

    Описание продукта:Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и высокопроизводительный прибор, разработанный для удовлетворения разнообразных потребностей научных исследований и промышленных НИОКР. Этот многофункциональный АСМ оснащен передовыми режимами измерений, включая микро...
Предыдущий
Page 4 из 4
ЗАТЕМ