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afm microscope

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  • Plataforma de detecção tudo-em-um Modulos personalizados e microscopia de força múltipla para ciência dos materiais

    Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é uma plataforma de caracterização em nanoescala de ponta, projetada para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis na análise de superfície. Com uma capacidade de tamanho de amostra de até 25 mm, este instrumento é ideal para ...
  • Modos de Contato/Toque para Análise em Escala Sub-nanométrica de Materiais

    Descrição do produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um microscópio de Força de Análise avançado projetado para fornecer capacidades excepcionais de imagem e medição em nanoescala.Projetado para precisão e versatilidade, este modelo AFM suporta uma ampla gama de taxas de digitalização de 0,1 ...
  • AtomExplorer: Microscópio de Sonda de Varredura (SPM/AFM) de Alta Precisão

    Descrição do produto: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsEste instrumento avançado utiliza um método de ...
  • AtomExplorer: O Microscópio de Força Atômica Ideal para Laboratórios de P&D

    Descrição do Produto:O Microscópio de Força Atômica do tipo Básico é um instrumento de ponta projetado para fornecer análise de superfície precisa e de alta resolução por meio de recursos avançados de varredura. Utilizando um método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, este microsc...
  • Medição Multifuncional (MFM/EFM) para Estudos Científicos Direcionados

    Descrição do produto:O Microscópio de Força Atómica (AFM) é um instrumento altamente avançado concebido para medições multifuncionais, oferecendo uma versatilidade e precisão incomparáveis em imagens e análises em nanoescala.Este AFM de última geração integra uma variedade de modos de medição, ...
  • Modos MFM/KPFM para caracterização de materiais em nanoescala de alta precisão

    Descrição do produto:O microscópio de força atômica (AFM) é um microscópio de força de varredura de última geração projetado para fornecer capacidades de imagem e medição incomparáveis na nanoescala.Com o seu avançado método de varredura de amostra completa XYZ de três eixos, este AFM permite um ...
  • Eixo Z de baixo ruído para a caracterização de materiais em nanoescala de alta precisão

    Introdução ao produto O microscópio multifuncional da força atómica AtomEdge Pro permite a varredura 3D em escala subnanométrica, imagens e caracterização de materiais, dispositivos electrónicos, amostras biológicas,e outros espécimes, e é amplamente utilizado em campos como ciência dos materiais, ...
  • Microscópio de Força Atômica do tipo básico

    Nome do Produto Microscópio de Força Atômica do tipo Básico - AtomExplorer Introdução do Produto O Microscópio de Força Atômica do tipo Básico AtomExplorer oferece resolução sub-nanométrica para observar a topografia e a textura da superfície do material. Ele captura estruturas finas e caracter...
  • AtomExplorer: ferramenta de topografia de precisão para chips e nanomateriais

    Descrição do Produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento versátil e de alto desempenho projetado para atender às diversas necessidades de pesquisa científica e aplicações de P&D industrial. Este AFM multifuncional está equipado com modos de medição avançados, ...
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