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products for "afm microscope
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Plateforme de détection tout-en-un – Modules personnalisés et microscopie multi-forces pour la science des matériaux
Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est une plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique de pointe conçue pour fournir une précision et une polyvalence inégalées dans l'analyse de surface.d'une capacité de taille d'échantillon maximale de 25 mm, cet instrument est ... -
Modes de contact/tapotement pour l'analyse des matériaux subnanométriques à l'échelle nanométrique
Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force de balayage avancé conçu pour fournir des capacités d'imagerie et de mesure exceptionnelles à l'échelle nanométrique.Conçu pour la précision et la polyvalence, ce modèle AFM prend en charge une large gamme de fr... -
AtomExplorer: microscope à sonde à balayage de haute précision (SPM/AFM)
Description du produit: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsCet instrument avancé utilise une méthode de ... -
AtomExplorer: le microscope de force atomique idéal pour les laboratoires de R&D
Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic est un instrument de pointe conçu pour fournir une analyse de surface précise et haute résolution grâce à des capacités de balayage avancées.Utilisation d'une méthode de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes, ce ... -
Mesure Multifonctionnelle (MFM/EFM) pour des Études Scientifiques Ciblées
Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument hautement avancé conçu pour la mesure multifonctionnelle, offrant une polyvalence et une précision inégalées dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique.Cet AFM de pointe intègre une variété de modes de mesure, y ... -
Modes MFM/KPFM pour la caractérisation de matériaux nanométriques de haute précision
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force à balayage de pointe, à la pointe de la technologie, conçu pour offrir des capacités d'imagerie et de mesure inégalées à l'échelle nanométrique. Grâce à sa méthode de balayage complète de l'échantillon sur trois ... -
Axe Z à faible bruit pour la caractérisation de matériaux à l'échelle nanométrique de haute précision
Introduction du produit Le microscope de force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro permet de scanner, d'imager et de caractériser des matériaux, des appareils électroniques, des échantillons biologiques,et autres spécimens, et est largement utilisé dans des domaines tels que la science des mat... -
Microscope à force atomique de type basique
Nom du produit Microscope de force atomique de type de base - AtomExplorer Introduction du produit Le microscope de force atomique de type AtomExplorer Basic offre une résolution inférieure aux nanomètres pour observer la topographie et la texture de la surface du matériau.Il capture des structures ... -
AtomExplorer: outil de topographie de précision pour puces et nanomatériaux
Description du produit:Le microscope de force atomique de type de base (AFM) est un instrument polyvalent et performant conçu pour répondre aux divers besoins de la recherche scientifique et des applications industrielles de R&D.Cet AFM multifonctionnel est équipé de modes de mesure avancés, y ...