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products for "afm microscope
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Piattaforma di rilevamento all-in-one Moduli personalizzati e microscopia multi-forza per la scienza dei materiali
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è una piattaforma di caratterizzazione nanoscopica all'avanguardia progettata per fornire precisione e versatilità senza pari nell'analisi delle superfici. Con una capacità di dimensioni del campione fino a 25 mm, questo strumento è ... -
Moduli di contatto/tap per l'analisi su nanoscala di materiali sotto nanometro
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione avanzato progettato per fornire eccezionali capacità di imaging e misurazione alla nanoscala. Progettato per precisione e versatilità, questo modello di AFM supporta un'ampia gamma di velocità di ... -
AtomExplorer: Microscopio di sonda di scansione ad alta precisione (SPM/AFM)
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica di tipo Base è un microscopio nanoscopico all'avanguardia progettato per fornire imaging di alta precisione e capacità di misurazione multifunzionali per una vasta gamma di applicazioni scientifiche e industriali. Questo strumento avanzato ... -
AtomExplorer: il microscopio atomico ideale per i laboratori di ricerca e sviluppo
Descrizione del prodotto:Il microscopio di forza atomica di tipo base è uno strumento all'avanguardia progettato per fornire analisi superficiali precise e ad alta risoluzione attraverso capacità di scansione avanzate.Utilizzo di un metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZ, questo ... -
Misurazione multifunzionale (MFM/EFM) per studi scientifici mirati
Descrizione del prodotto:Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato progettato per la misurazione multifunzionale, offrendo una versatilità e precisione senza pari nell'imaging e nell'analisi su scala nanometrica.Questo AFM all'avanguardia integra una varietà di ... -
Modalità MFM/KPFM per la caratterizzazione di materiali nanoscopici ad alta precisione
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione all'avanguardia progettato per fornire capacità di imaging e misurazione senza pari a scala nanometrica. Con il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ avanzato, questo AFM ... -
Asse Z a basso rumore per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica ad alta precisione
Introduzione al prodotto Il microscopio multifunzionale a forza atomica AtomEdge Pro consente la scansione 3D, l'imaging e la caratterizzazione di materiali, dispositivi elettronici, campioni biologici e altri campioni su scala sub-nanometrica ed è ampiamente utilizzato in campi quali scienza dei ... -
Microscopio a forza atomica di tipo base
Nome del prodotto Microscopio di forza atomica di tipo base - AtomExplorer Introduzione del prodotto Il microscopio di forza atomica di tipo AtomExplorer Basic offre una risoluzione inferiore ai nanometri per osservare la topografia e la consistenza della superficie del materiale.Capta strutture ... -
AtomExplorer: Strumento di topografia di precisione per chip e nanomateriali
Descrizione del prodotto:Il microscopio a forza atomica (AFM) di tipo Basic è uno strumento versatile e ad alte prestazioni progettato per soddisfare le diverse esigenze della ricerca scientifica e delle applicazioni di ricerca e sviluppo industriale. Questo AFM multifunzionale è dotato di modalità ...