Found
36
products for "afm microscope
"-
پلتفرم تشخیص همهکاره – ماژولهای سفارشی و میکروسکوپ چند نیرو برای علم مواد
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک پلتفرم مشخصه یابی نانومقیاس پیشرفته است که برای ارائه دقت و تطبیق پذیری بی نظیر در تجزیه و تحلیل سطح طراحی شده است. با ظرفیت اندازه نمونه تا 25 میلی متر، این ابزار برای بررسی طیف گسترده ای از مواد و ساختارها در مقیاس نانو ایده آل است و آن را به ابزاری ضرو... -
روش های تماس/تاپ برای تجزیه و تحلیل نانومتر مواد زیر نانومتر
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک میکروسکوپ نیروی اسکن پیشرفته است که برای ارائه قابلیت های تصویربرداری و اندازه گیری استثنایی در مقیاس نانو طراحی شده است.طراحی شده برای دقت و انعطاف پذیری، این مدل AFM از طیف گسترده ای از نرخ های اسکن از 0.1 هرتز تا 30 هرتز پشتیبانی می کند و به کاربران اجا... -
AtomExplorer: میکروسکوپ سنجه اسکن با دقت بالا (SPM/AFM)
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) نوع پایه یک میکروسکوپ نانومقیاس پیشرفته است که برای ارائه تصویربرداری با دقت بالا و قابلیتهای اندازهگیری چند منظوره برای طیف گستردهای از کاربردهای علمی و صنعتی طراحی شده است. این ابزار پیشرفته از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ استفاده میکند و به کاربرا... -
AtomExplorer: میکروسکوپ نیروی اتمی ایدهآل برای آزمایشگاههای تحقیق و توسعه
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه یک ابزار پیشرفته است که برای ارائه تجزیه و تحلیل سطح دقیق و با وضوح بالا از طریق قابلیت های اسکن پیشرفته طراحی شده است. با استفاده از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ، این میکروسکوپ امکان بررسی جامع و دقیق نمونه ها را فراهم می کند و از نقشه برداری توپوگراف... -
اندازه گیری چند عملکردی (MFM/EFM) برای مطالعات علمی هدفمند
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار پیشرفته است که برای اندازهگیری چند منظوره طراحی شده است و تطبیقپذیری و دقت بینظیری را در تصویربرداری و تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو ارائه میدهد. این AFM پیشرفته، انواع حالتهای اندازهگیری، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکرو... -
حالت های MFM/KPFM برای مشخصه سازی دقیق مواد نانوماتیک
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک میکروسکوپ نیروی اسکن پیشرفته است که برای ارائه قابلیت های تصویربرداری و اندازه گیری بی نظیر در مقیاس نانو طراحی شده است.با روش پیشرفته اسکن نمونه کامل سه محور XYZ، این AFM امکان بررسی دقیق و جامع سطوح نمونه را فراهم می کند و دقت بالا و تکرار پذیری را در تح... -
محور Z کم سر و صدا برای مشخصه سازی دقیق مواد نانو
معرفی محصول میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره AtomEdge Pro امکان اسکن سه بعدی در مقیاس زیر نانومتر، تصویربرداری و شناسایی مواد، دستگاههای الکترونیکی، نمونههای بیولوژیکی و سایر نمونهها را فراهم میکند و به طور گسترده در زمینههایی مانند علوم مواد، شیمی و علوم محیطی، نیمهرساناها، میکروالکترونیک، زیس... -
میکروسکوپ نیروی اتمی پایه
نام محصول میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه - AtomExplorer معرفی محصول میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه AtomExplorer وضوح زیر نانومتری را برای مشاهده توپوگرافی و بافت سطح مواد ارائه می دهد. این دستگاه ساختارهای ریز و ویژگی های کوچکی را بر روی سطوح مواد در مقیاس های نانومتر تا میکرومتر ثبت می کند و اط... -
AtomExplorer: ابزار توپوگرافی دقیق برای تراشهها و مواد نانو
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه (AFM) یک ابزار متنوع و با عملکرد بالا است که برای پاسخگویی به نیازهای متنوع تحقیقات علمی و کاربردهای صنعت تحقیق و توسعه طراحی شده است.این AFM چند منظوره مجهز به حالت اندازه گیری پیشرفته است، از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، میکروسکوپی نیروی س...