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products for "afm microscope
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Plataforma de detección todo-en-uno Modulos personalizados y microscopía de múltiples fuerzas para la ciencia de materiales
Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una plataforma de caracterización a nanoescala de vanguardia diseñada para proporcionar una precisión y versatilidad sin precedentes en el análisis de la superficie.Con una capacidad de tamaño de muestra de hasta 25 mm, este ... -
Modos de contacto/toque para el análisis a nanoescala de materiales subnanométricos
Descripción del Producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un Microscopio de Fuerza de Barrido avanzado diseñado para proporcionar capacidades excepcionales de imagen y medición a nanoescala. Diseñado para la precisión y la versatilidad, este modelo de AFM admite una amplia gama de ... -
AtomExplorer: Microscopio de sonda de barrido (SPM/AFM) de alta precisión
Descripción del producto: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsEste instrumento avanzado emplea un método de ... -
AtomExplorer: el microscopio de fuerza atómica ideal para laboratorios de I+D
Descripción del Producto:El Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico es un instrumento de vanguardia diseñado para ofrecer un análisis de superficie preciso y de alta resolución a través de capacidades de escaneo avanzadas. Utilizando un método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, ... -
Medición multifuncional (MFM/EFM) para estudios científicos dirigidos
Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento altamente avanzado diseñado para mediciones multifuncionales, que ofrece una versatilidad y precisión sin precedentes en imágenes y análisis a nanoescala.Este AFM de última generación integra una variedad de modos de ... -
Modos MFM/KPFM para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión
Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un microscopio de fuerza de escaneo de última generación diseñado para proporcionar capacidades de imagen y medición sin precedentes a nanoescala.Con su avanzado método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, este AFM ... -
Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión
Introducción del Producto El Microscopio de Fuerza Atómica Multifuncional AtomEdge Pro permite el escaneo, la obtención de imágenes y la caracterización 3D a escala subnanométrica de materiales, dispositivos electrónicos, muestras biológicas y otras muestras, y se utiliza ampliamente en campos como ... -
Microscopio de fuerza atómica de tipo básico
Nombre del producto Microscopio de fuerza atómica de tipo básico - AtomExplorer Introducción del producto El microscopio de fuerza atómica de tipo básico AtomExplorer ofrece una resolución subnanométrica para observar la topografía y la textura de la superficie del material.Captura estructuras finas ... -
AtomExplorer: Herramienta de topografía de precisión para chips y nanomateriales
Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica de tipo básico (AFM) es un instrumento versátil y de alto rendimiento diseñado para satisfacer las diversas necesidades de investigación científica y aplicaciones industriales de I+D.Este AFM multifuncional está equipado con modos de medición ...