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Station de sonde cryogénique sous vide Épreuves électriques Station de sonde automatisée
Station de cryo-sonde rentable pour les essais électriques automatisés Description du produit: La station de sonde cryogénique est un outil essentiel pour la caractérisation des dispositifs cryogéniques, fournissant une solution rentable pour les chercheurs et les ingénieurs de diverses industries...
Station de sondes magnétiques vectorielles pour la caractérisation de dispositifs 2D
Station de sonde magnétique vectorielle pour la caractérisation de dispositifs 2D Description du produit: La station de sonde magnétique verticale 2D en plan est un outil avancé conçu pour des mesures précises des champs magnétiques, en se concentrant spécifiquement sur la composante verticale.Avec ...
Station de sonde cryogénique au champ magnétique Station de sonde à 360 degrés
Station de cryo-sonde pour les essais de transport de dispositifs magnétiques en plan Description du produit: La station de sonde de champ magnétique cryogénique en plan est un outil de pointe conçu pour la recherche avancée dans les tests de propriétés de transport électrique et la mesure du ...
140 mT Stations de sonde de plaquette Station de sonde 2D pour la spintronie et les tests de niveau de plaquette
Station de sonde magnétique 2D pour la spintronique et les tests au niveau de la plaquette Description du produit : La station de sonde magnétique vectorielle est un outil de pointe conçu pour des mesures précises des champs magnétiques dans les dispositifs spintroniques. Elle est équipée de ...
AtomExplorer: AFM personnalisable pour les mesures magnétiques et électriques avancées
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type de base est un instrument polyvalent et performant conçu pour fournir une imagerie topographique à l'échelle nanométrique précise pour un large éventail d'applications de recherche et industrielles. Conçu avec une technologie de ...
AtomExplorer: le microscope de force atomique idéal pour les laboratoires de R&D
Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic est un instrument de pointe conçu pour fournir une analyse de surface précise et haute résolution grâce à des capacités de balayage avancées.Utilisation d'une méthode de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes, ce ...
Modes de contact/tapotement pour l'analyse des matériaux subnanométriques à l'échelle nanométrique
Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force de balayage avancé conçu pour fournir des capacités d'imagerie et de mesure exceptionnelles à l'échelle nanométrique.Conçu pour la précision et la polyvalence, ce modèle AFM prend en charge une large gamme de fr...
Modes MFM/KPFM pour la caractérisation de matériaux nanométriques de haute précision
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force à balayage de pointe, à la pointe de la technologie, conçu pour offrir des capacités d'imagerie et de mesure inégalées à l'échelle nanométrique. Grâce à sa méthode de balayage complète de l'échantillon sur trois ...
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Récemment, l'équipe de recherche du Centre de Spintronique et de Systèmes Quantiques de l'École des Sciences des Matériaux et du Génie de...
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Récemment, l'équipe de recherche de l'Institut de recherche sur l'énergie propre et la chimie des combustibles, de l'École de génie chimique de...
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