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MOKE・ウェーファースキャナー (EFEM) ヒステレシスと磁気均一性マップのためのウェーファー測定システム
MOKEウェーハースキャナー（ヒステリシスおよび磁気均一性マップ用） 製品説明: ウェーハレベルのヒステリシスループ測定装置をご紹介します。これは、この分野の高度な研究開発の要求に応えるために設計された、スピントロニクス計測における最先端のツールです。この革新的な製品は、ウェーハレベルでの磁気特性の正確かつ効率的な測定のための比類のない機能を提供します。 この最先端のウェーハ磁力計の重要な特徴の1つは、その優れたサンプル再現性であり、10 μm 以上の性能レベルを誇っています。この高い再現性レベルは、測定結果の精度と一貫性を保証し、研究者が得られたデータを自信を持って利用できるようにします。 ...
急速冷却 マグネト光学結晶器 1 上の窓 MO-結晶器 高級材料研究用
高度な材料研究用高速冷却MOクライオスタット 製品説明: この超低温超伝導磁石内蔵光学特性測定クライオスタットは、量子材料を研究し、低温顕微鏡実験を行う研究者向けに設計された最先端のシステムです。この高度なクライオスタットは、温度安定性、サンプル空間、磁場強度、および光学窓を精密に制御し、幅広い研究用途に理想的なソリューションを提供します。 温度安定性: このクライオスタットは、20 K未満の温度で±0.2％、20 Kを超える温度で±0.02％の精度で、優れた温度安定性を提供します。このレベルの安定性により、1.7 Kから350 Kまでの幅広い温度範囲で、信頼性が高く一貫した実験結果が保証され...
低温垂直超伝導磁場探査ステーション
極低温垂直超伝導磁場プローブステーション 製品紹介 PS1DP-Cryoクローズドループ極低温超伝導磁石プローブステーションは、4 Kクローズドループ極低温プローブステーションをベースに、±3 T超伝導磁石を追加し、2インチサンプルに低温強磁場環境を提供します。2D材料、スピントロニクスデバイス、超伝導材料の電気輸送試験、および半導体材料またはデバイスのホール効果試験用のサンプルに対応できます。プローブステーションは、自動化された体系的な試験ソリューションのための包括的な制御および試験ソフトウェアを提供します。ユーザーは、ソフトウェアを介してプローブステーションの温度と磁場をリアルタイムで監視...
低温探査ステーションの2インチサンプルのための ±1.20mK安定性と0〜67GHzマイクロ波の4K冷凍試験器
PS-Cryo 4 K 極低温プローブステーション PS-Cryo 4 K 極低温プローブステーションは、4 Kから420 Kまでの超低温でのサンプルの精密な電気的試験用に設計された最先端のソリューションです。この費用対効果の高いシステムは、極低温環境下で高度な材料や半導体デバイスを扱う研究者やエンジニアの厳しい要求に応えます。 主な特徴 安定した精密な測定を保証する低振動高真空極低温プローブステーション プローブホルダーとサンプルステージの温度差が10 K未満の熱アンカー 周波数範囲：低温度同軸ケーブルで0～50 MHz、セミリジッド同軸ケーブルで0.1 GHz マイクロ波プローブサポート...
低リーク4Kシステム：2インチ互換性、0-67 GHz & ±1.20 mK安定性
製品説明: The PS-Cryo 4 K cryogenic probe station is a state-of-the-art multi-probe (4-8 arms) cryogenic optoelectronic and microwave probe station designed to meet the demanding needs of advanced research and development in low-temperature environmentsこの探査ステーションは 精度と多用性のために設計され 4 ケルビン以下の冷凍温度で 装置をテストし 特...
原子探査機AFMでマスターナノスケール表面特性
製品の説明: 基本型原子間力顕微鏡（AFM）は、高度でありながら使いやすいAFM装置を求める研究室向けに特別に設計された、非常に汎用性の高い信頼性の高い走査型プローブ顕微鏡です。このモデルは、材料表面の特性評価のための包括的な機能を提供し、研究者や科学者がナノスケールで詳細な地形情報と機械的情報を、卓越した精度で取得できるようにします。 この基本型AFMの際立った特徴の1つは、そのマルチモード動作機能です。タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードをサポートしており、ユーザーはサンプルタイプと分析したい特定の表面特性に応じて、走査アプローチを調整できます。タップモード...
AtomExplorer AFM: 材料分析用統合 MFM、EFM & KFM
製品の説明: Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、幅広い表面分析用途に卓越した性能と汎用性を提供するように設計された最先端の機器です。高度な技術で設計されたこのAFM顕微鏡は、サブナノメートル分解能のAFM機能を備えており、研究者やエンジニアが表面の形状と特性を比類のない精度で観察および測定できます。わずか0.04ナノメートルの優れたZ軸ノイズレベルにより、最も微妙な表面の特徴でも正確に検出および分析できるため、ナノテクノロジー、材料科学、半導体研究に不可欠なツールとなっています。 Basic型原子間力顕微鏡の際立った特徴の1つは、その多機能な測定能力です。静電フォース顕微鏡（EFM）、走...
オールインワン原子間力顕微鏡 多機能生物顕微鏡 柔軟で精密な操作用
フレキシブルで正確な操作のためのオールインワン原子間力顕微鏡 製品の説明: 原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノスケール電気測定および分析用に設計された最先端のツールです。この高度な機器は、ナノスケールレベルでのスキャンとイメージングにおいて比類のない能力を提供し、さまざまな分野で研究者や科学者にとって不可欠なデバイスとなっています。 主な製品属性: スキャン範囲: 100 μm X 100 μm x 10 μm Z方向のノイズレベル: 0.04 nm スキャン方法: XYZ 3軸フルサンプルスキャン 非線形性: XY方向で0.02％、Z方向で0.08％ XY方向のノイズレベル: 0.4 nm 原...
ニュース
最近 習安大学材料科学技術部の 量子システムとスピントロニクスセンターの研究チームは著名なナノサイエンスジャーナルに 非常に価値のある研究論文を発表しましたナノスケール (Royal Society of Chemistryの雑誌)...
ニュース
最近、遼寧科技大学化学工学部のクリーンエネルギー・燃料化学研究所の研究チームは、トップティアの水素エネルギージャーナルであるに掲載された論文のスクリーンショットと、権威ある界面化学ジャーナルであるに掲載された論文のスクリーンショットに、一連の最新の研究成果を連続して発表しました。Truth...
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